用于质量保证的三维 X 射线测量技术 ZEISS METROTOM

NEW:
METROTOM 1500
3rd Generation

基于蔡司METROTOM 的工业计算机断层扫描(CT)

利用蔡司的工业计算机断层扫描系统,仅需一次 X 射线扫描,即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台,满足客户对精确性的高要求。

第三代新款蔡司METROTOM 1500

面向未来的质量控制——今天

十二年来,蔡司METROTOM系列一直为质量控制提供可靠的CT技术。第三代计算机断层扫描(CT)系统蔡司METROTOM 1500极好地证明了先进可靠的X射线技术不再是未来的愿景。今天,您可以使用面向未来的质量控制。

ZEISS METROTOM
测量和检查较大的零件

第三代计算机断层扫描(CT)系统蔡司METROTOM 1500极好地证明了先进可靠的X射线技术不再是未来的愿景。今天,您可以使用面向未来的质量控制。

更舒适安全的操作

操作员可通过前门进入系统并将其用作服务接入点,加载更大和更重的部件变得更方便。用户可以容易、准确地执行CT测量。

占地面积小

对于运输、安装、维护或客户实验室中的占用空间——系统越小越好。蔡司大型工业CT系统舱的设计完全致力于有效利用空间。

蔡司METROTOM 1500(第2代与第3代)中铝制部件的图像比较。由于体素尺寸较小,新的3K检测器可以以更高分辨率清晰显示更小的细节。

看得更多。

在第三代系统中,新的3k检测器可生成更高分辨率的3D体数据集,即更多体素可以检测到更小的缺陷。

扫描更快。

通过检测器的不同操作模式,扫描时间可减少多达75%,同时获得与2k检测器相当的体素尺寸。

蔡司METROTOM系列

METROTOM 800 130 kV

高精准度

部件尺寸

●○○○

精度

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时间

●○○○

面积

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密度

●●○○

分辨率

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METROTOM 800 225 kV

快速采集,高密度的部件

部件尺寸

●●○○

精度

●●●○

时间

●●●○

面积

●●○○

密度

●●●○

分辨率

●●○○

METROTOM 800 225 kV (HR)

快速获取,高密度的部件和细节描述

部件尺寸

●●○○

精度

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时间

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面积

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密度

●●●○

分辨率

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METROTOM 1500

即使对于非常大的部件也能实现更多的灵活

部件尺寸

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精度

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时间

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面积

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密度

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分辨率

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使用蔡司METROTOM轻松进行测量

Measurement of a light metal component
轻金属部件的测量检验

测量与检验整体部件

蔡司METROTOM是一种工业计算机断层扫描系统,用于测量和检查由塑料或轻金属制成的完整部件。而在利用传统测量机测量时,此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。

轻松且精准地进行多样化特征检测

利用蔡司METROTOM 计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精确,且具可追溯性。和接触式测量方法不同,蔡司METROTOM 获取海量测量点时,时间显著缩短。

Measurement of a base plug.
连接器的测量。

直观简易的软件操作

仅需通过短时间的蔡司METROTOM OS 软件培训课程,操作人员即可对零件进行扫描,透视零件的内部。通过蔡司CALYPSO和NEO软件,您可以评估CT数据,通过蔡司PiWeb,它们可以在一个测量报告中快速合并。

有关蔡司计算机断层扫描的更多信息,请访问YOUKU

How ZEISS CT systems work

ZEISS CT user meeting 2017

Automatic Loading of Workpieces with ZEISS METROTOM

ZEISS CT solutions in the plastics industry

ZEISS CT solutions used at starlim//sterner