CT技术的简捷新高度
ZEISS METROTOM 1
您想检查塑料或轻金属部件的内部,但计算机断层扫描似乎太复杂了?探索ZEISS METROTOM系列的最新成员,让您以简单的方式深入了解X射线技术领域和您的部件。
第三代新款蔡司METROTOM 1500
面向未来的质量控制——今天
十二年来,蔡司METROTOM系列一直为质量控制提供可靠的CT技术。第三代计算机断层扫描(CT)系统蔡司METROTOM 1500极好地证明了先进可靠的X射线技术不再是未来的愿景。今天,您可以使用面向未来的质量控制。
看得更多。
在第三代系统中,新的3k检测器可生成更高分辨率的3D体数据集,即更多体素可以检测到更小的缺陷。
扫描更快。
通过检测器的不同操作模式,扫描时间可减少多达75%,同时获得与2k检测器相当的体素尺寸。
蔡司METROTOM系列
使用蔡司METROTOM轻松进行测量
测量与检验整体部件
蔡司METROTOM是一种工业计算机断层扫描系统,用于测量和检查由塑料或轻金属制成的完整部件。而在利用传统测量机测量时,此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。
轻松且精准地进行多样化特征检测
利用蔡司METROTOM 计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精确,且具可追溯性。和接触式测量方法不同,蔡司METROTOM 获取海量测量点时,时间显著缩短。
全面的3D CT数据分析
GOM Volume Inspect(体积检测)分析软件易于使用,甚至适合初学者,它允许以3D形式进行完整的CT数据分析。软件可以精准地分析几何形状、缩孔或内部结构和组件。即使是细微的缺陷也可以通过单个截面图像看到,并且可以根据各种标准自动进行评估。您还可以将几个组件的体积数据加载到项目中,执行趋势分析,并将分析结果与CAD数据进行比较。这样,就可以准确地确定和记录组件的质量,而上述这些往往都只需一个软件即可完成。
ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)
Artificial intelligence in computed tomography
The ZADD add-on in GOM Volume Inspect detects even small and fuzzy defects in components reliably, quickly and automatically, ZADD detects, localizes and classifies defects or anomalies while analyzing them in detail by reading CT-scans. The software add-on is applicable for castings, injection molded parts, batteries printed components and other applications.
DAkkS校准认证,信心更强
汽车、医疗或制药行业的更高质量标准通常必须依靠经认证的CT检验程序。这将实现按照VDI/VDE 2630第1.3部分对部件执行客观和符合标准的测量。DAkkS校准认证为全球许多机构所认可,可消除多次评估的成本。现在,ZEISS METROTOM 800和1500系列的计算机断层扫描装置也获得了DAkkS校准认证!得益于其优势:节约成本,为客户创造更高的信任度。
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可选组件
自动滤光片转换器
借助自动滤光片转换器,不再需要进行手动滤光片预设来扫描具有不同材料和材料成分的各种部件。这样,您可以更快地获得可靠的结果。
ZEISS FixAssist CT
借助ZEISS FixAssist CT,您可以减少多达80%的机器停机时间。只需在测量前将工件放在机器的外托盘上,接着将预先调整的部件放在计算机断层扫描系统中,然后立即开始扫描即可。
ZEISS Tomostage
您想在一次扫描中采集多个部件吗?专门为CT应用开发的碳纤维塔架可以做到这一点。这样可以大大减少每个部件的测量时间,从而提高生产率。