ZEISS METROTOM 6 scout

METROTOM 6 scout

用于CT检测和计量的高分辨率设备

ZEISS METROTOM 6 scout以先进的细节水平对包括内部几何结构在内的复杂部件进行数字化处理。其结果是一个完整的三维图像,用于形位公差分析或目标/实际对比。CT计量系统是小型塑料部件数字化的理想选择。

  • 极高分辨率
  • 高精度
  • 自动物体定位
  • 一体化软件

对小型塑料部件进行高分辨率测量

ZEISS METROTOM 6 scout是对部件进行无损检测和三维测量的理想解决方案。先进的测量性能和无缝工作流确保了缺陷检测的高可靠性和准确性。

利用其他技术揭秘隐藏的信息
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分辨率

在对部件进行数字化处理时,ZEISS METROTOM 6 scout可实现出色的细节锐度:首先,其使用高分辨率的3k X射线探测器获取测量数据;其次,每个部件均在理想测量位置进行测量,因此分辨率很高。结果如图所示:左侧是使用ZEISS METROTOM 6 scout生成的测量数据,右侧是常规标准数据。

保证高精度

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精度

ZEISS METROTOM 6 scout使用数学智能生成准确的三维测量数据。在整个测量过程中,将出色的互联算法与测量室的数字模型相结合。它还为所有与测量相关的部件提供了优化的机械稳定性。要旨:根据测量结果,您可以真正可靠、高度准确地评估部件质量,并进行后续分析。

自动对中部件

内置定心台的五轴运动学系统可将部件在测量体积内准确定位。只需将其放入机器的测量室,其余的工作将由软件接管。

一体化软件

  • Intuitive and powerful​
  • 适用于所有工艺步骤的单一解决方案

    适用于所有工艺步骤的单一解决方案

    一个软件ZEISS INSPECT X-Ray将系统控制和数据计量评估结合在一起。因此,无需额外的软件或中间步骤。

    这确保了无缝流程,并大大简化了从原始数据采集到检测和测量报告的工作流。

  • 直观而强大

    直观而强大

    ZEISS INSPECT X-Ray软件提供CT数据的全三维分析,以评估部件质量并优化您的制造工艺。通过单个剖面图像,您可以逐层查看体积,揭示微小的细节和缺陷。检测到的缺陷可根据各种标准进行详细分析和自动评估。此外,您还可以将多个部件的体积数据加载到一个项目中,执行趋势分析,并将分析结果与CAD数据进行比较。所有测量结果都记录在案,并在结构合理的报告中进行总结。操作直观,性能出众:分析CT数据从未如此简单!

ZEISS METROTOM

技术数据

特点

X射线源

225 kV

X射线探测器

分辨率:3008 × 2512像素

测量区域

d:240 mm
h:400 mm

尺寸

H. 2210 mm
W. 2200 mm
D. 1230 mm

重量

4800 kg

应用领域

首件检测、工具校正、生产过程中的检测

检测功能

内部结构、壁厚、材料缺陷、孔隙和缩孔

测量任务

形位公差分析、标称-实际比较、装配分析

下载

    • EN_ZEISS METROTOM 6 scout_Flyer_online

      612 KB


    • EN, ZEISS X-Ray Series Brochure_Online

      1 MB


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