表面检测系统，可提供不同版本和系统概念

蔡司ABIS II

Optical surface inspection sensor ZEISS ABIS II detects a wide range of defect types

使用模块化探头实现客观、快速的测量

ABIS II可用于检测各种缺陷类型。该系统可对凹痕、凹凸、凹陷、波纹、收缩、裂缝进行可靠的早期识别和分类，它是生产钣金零件和白车身的完美质量控制仪器。用户尤其可从高精度和极短的循环时间中获益。ABIS II的模块化探头技术具有极高的灵活性。通过可选的集成对比探头，它还可以用于检测对比度敏感的缺陷，例如：粘合剂残留物、划痕和污垢。

概述
建议
联系我们
在整个流程链中持续分析表面质量

许多汽车行业的用户依赖整个流程链中的集成表面质量分析。经过单个零件、组装和阴极浸涂的每个流程步骤之后，通过相同的检查应用再次检查各个零件，以识别可能影响面漆质量的任何表面缺陷。在每个流程步骤之后记录缺陷的发展。生产中的实践经验表明，在流程步骤之后，表面缺陷的相关性可以增加或减少。

Optical surface inspection sensor ZEISS ABIS II detects a wide range of defect types
Optical surface inspection sensor ZEISS ABIS II detects a wide range of defect types

基于流程范围的质量分析，所需的返工需在零件所需的位置和所需的流程步骤上精确完成。这提高了精加工区域的效率并且极大地节省了成本。除了在整个流程链中形成表面缺陷外，生产期内与时间相关的变化也为用户提供了有关质量变化的重要信息。例如，当审计值恶化时，可以在生产稍后需要返工的缺陷零件之前的早期阶段采取校正措施（例如：压力机参数或模具表面）。

对蔡司ABIS II感兴趣? 请联系我们！

请填写您的数据，我们将联系您并回答您的问题：