根据膜层厚度的不同,必须使用不同的算法或方法从光谱中确定层厚,如快速傅里叶变换、化学计量/近红外(NIR)分析、物理建模或紫外线测量。
为了满足对层厚、基重、色印和类似光学参数的严格要求,以及确定最终产品表面的均匀性,需要进行非接触、非破坏性和高准确性的测量。
相关参数必须得到实时记录、显示和评估。这使得操作人员得以进行及时干预、自动控制、分拣任务和分类。
ThinProcess®不仅可以在线和线旁测量光谱反射率和透射率,还可测定色值、光谱特性、镀膜厚度及其他产品相关参数。虽然它们为大面积高通量镀膜系统而设计,但同样能够助您快速高效地完成日常工作。
铝箔宽度
膜层厚度
光谱透射率和反射率测量范围
一款基于配方的可定制软件,适用于多种应用:监控、结果显示、结果存储、通信
连接监控软件与工厂控制
将所有数据保存在微软SQL数据库中,使用所有常用工具进行查询
传输结果和系统状态,配方切换
获取实时数据,并将其与历史和预设的值进行比较。ThinProcess®是可以充分利用测量信息的理想工具,并能轻松适应不断变化的要求。光学组件可放置在真空室内部或外部。
数据可通过OPC UA提供给传感器网络并进入SQL数据库,从而使工业4.0解决方案发挥效用。ThinProcess®也可集成到MES环境中。
作为一款自校准、自触发且可同步的软件,ThinProcess®使用简单,并可轻松集成到您的系统中。此外,实时数据还可帮助您在生产过程中快速作出决策,甚至在高通量镀膜系统中也能轻松完成日常工作。
您是否需要安装、应用或维护的支持?
您是否对我们的产品或您应用的定制配置有任何疑问?
正在加载表格...
卡尔蔡司光谱事业部或蔡司授权的企业将通过电子邮件或电话回答您在联络表单中输入的信息。如果您想了解有关蔡司数据处理的更多信息,请参阅我们的数据隐私声明。
查找您附近的合作伙伴和分销商