现代铝箔薄膜加工机
薄膜计量

理想结果源于持续的膜层评估 用于薄膜加工的蔡司光谱仪系统

  • 稳定可靠的过程控制
  • 透明光滑的基材(如PET)
  • 粗糙不透明的基材(如纸张)
  • 膜层厚度为50 nm至100 µm
  • 在高通量镀膜系统中快速且高效

多种多样的方法

根据膜层厚度的不同,必须使用不同的算法或方法从光谱中确定层厚,如快速傅里叶变换、化学计量/近红外(NIR)分析、物理建模或紫外线测量。

微小公差

为了满足对层厚、基重、色印和类似光学参数的严格要求,以及确定最终产品表面的均匀性,需要进行非接触、非破坏性和高准确性的测量。

实时优化

相关参数必须得到实时记录、显示和评估。这使得操作人员得以进行及时干预、自动控制、分拣任务和分类。

应用范围 薄膜加工

  • 覆有塑料箔的彩卷

    塑料

  • 科学家在实验室中握住并掰弯柔性透明超薄玻璃

    超薄玻璃

  • 镀膜织物在在纺织厂的大型传送辊上移动

    纺织品

  • 镀膜前纸张在造纸厂的滚筒上移动

    纸张

设计源自工业,用于工业

蔡司光学测量和紧凑型光谱仪系统

ThinProcess®不仅可以在线和线旁测量光谱反射率和透射率,还可测定色值、光谱特性、镀膜厚度及其他产品相关参数。虽然它们为大面积高通量镀膜系统而设计,但同样能够助您快速高效地完成日常工作。

值得信赖的性能

  • > 6 m

    铝箔宽度

  • 0.05 - 10 μm

    膜层厚度

  • 360 - 1700 nm

    光谱透射率和反射率测量范围

我们的解决方案一览

  • ThinProcess®

    一款基于配方的可定制软件,适用于多种应用:监控、结果显示、结果存储、通信

  • ProcessLinker

    连接监控软件与工厂控制

  • SQL数据库

    将所有数据保存在微软SQL数据库中,使用所有常用工具进行查询

  • MES连接

    传输结果和系统状态,配方切换

为您量身打造,实现更高效率

成功运作所需的所有优势

  • 根据您的需求开发

    获取实时数据,并将其与历史和预设的值进行比较。ThinProcess®是可以充分利用测量信息的理想工具,并能轻松适应不断变化的要求。光学组件可放置在真空室内部或外部。

  • 互联通讯

    数据可通过OPC UA提供给传感器网络并进入SQL数据库,从而使工业4.0解决方案发挥效用。ThinProcess®也可集成到MES环境中。

  • 更加便利

    作为一款自校准、自触发且可同步的软件,ThinProcess®使用简单,并可轻松集成到您的系统中。此外,实时数据还可帮助您在生产过程中快速作出决策,甚至在高通量镀膜系统中也能轻松完成日常工作。

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