精密光学测量和紧凑型光谱仪系统,适用于需要大面积镀膜的工业应用。
蔡司光谱仪系统可测定镀膜的颜色、厚度以及透射和反射光谱。这使您能够即时了解过程和产品的状态,从而快速启动镀膜系统,高效地进行产品转换并持续保持控制。
镀膜工艺过程完成后,系统会通过测量光谱透射率和/或反射来确定特性。这项工作在真空或大气环境的镀膜腔室内完成,必要时会立即提供数值以进行纠正性干预。
无需用户干预,系统即可连续测量和记录颜色、膜层均匀性或不同视角下的颜色感知等质量参数。
系统可用于在过程中测量镀膜参数。其特点是测量速度快、精度高且无需调整样品。
所有ThinProcess®测量系统均将结果存储在SQL数据库中,并通过选配的现场总线接口集成至过程控制系统。此外,它们也可集成到MES中。
您是否需要安装、应用或维护的支持?
您是否对我们的产品或您应用的定制配置有任何疑问?
正在加载表格...
卡尔蔡司光谱事业部或蔡司授权的销售代表或经销商将通过电子邮件或电话回答您在联络表单中输入的信息。如果您想了解有关蔡司数据处理的更多信息,请参阅我们的数据隐私声明。
查找您附近的合作伙伴和分销商