建筑玻璃堪称现代奇迹。然而,复杂的形状需要准确的控制和制造,以及对颜色、层厚和面电阻等参数的持续监控。
日益严格的质量标准和性能要求,加上镀膜玻璃基底生产中的高成本压力,要求尽早识别生产中的干扰,并加深对工艺的理解。
为了进行有效的质量评估,有必要根据工艺过程数据在线识别质量特征。质量和过程监控自动化程度的不断提高,对所有用于检测的在线测量系统的准确度和可靠性提出了更高要求。
ThinProcess®不仅可以在线和线旁测量光谱反射率和透射率,还可测定色差、光谱特性、镀膜厚度及其他产品相关参数。虽然它们为大面积高通量镀膜系统而设计,但同样能够助您快速高效地完成日常工作。
高速测量、数据点采集和评估
可测量宽度
色度精度(与实验室仪器对比)
一款基于配方的可定制软件,适用于多种应用:监控、结果显示、结果存储、通信
连接监控软件与工厂控制
将所有数据保存在微软SQL数据库中,使用所有常用工具进行查询
传输结果和系统状态,配方切换
我们是一家无需参考标准即可在大气以及真空环境中进行绝对光谱反射测量的制造商。此外,我们还可提供适用于加工和最终检测的解决方案,其中采用了可添加测量位置或扩展波长范围的模块化设计。
利用设备的高精度,提供实验室般值得信赖的结果以及轻松的使用体验。ThinProcess®易于安装和集成,且可轻松适应不断变化的需求。它还具有自校准、自触发和同步功能,并可根据您的具体需求进行调整。
实时数据让您可以洞察过程变化,并支持您将结果与预设值及历史数据进行比较。这意味着您可以快速作出反应并更改工艺参数,从而提高产量和利润。即使在高通量镀膜系统中,ThinProcess®也能助您快速高效地完成日常工作。通过OPC UA和SQL数据库为传感器网络提供数据,从而实现工业4.0解决方案和智能数字集成。
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