蔡司工业用扫描电子显微镜：

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用于电子显微镜的ZEISS ZEN core

探索新维度

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蔡司工业用扫描电镜：扫描电子显微镜组合

凭借扫描电子显微镜，蔡司为工业质量保证和失效分析领域的各种应用提供了广泛的系统组合。

满足您需求的解决方案

蔡司扫描电子显微镜（SEM）系列

	蔡司EVO系列标准入门级系统	蔡司Sigma系列高级系统	蔡司GeminiSEM系列高端系统	蔡司Crossbeam系列具有三维功能的高端系统

系统	常规扫描电子显微镜，专用于具有挑战性的EDS分析工作流，提供易于使用的软件选项	用于高质量成像和高级分析显微镜的场发射扫描电子显微镜	场发射扫描电子显微镜可满足亚纳米成像、分析和样品灵活性方面的高要求	用于高通量三维分析和样品制备的场发射扫描电子显微镜以及飞秒激光的使用
优势	处理日常应用双冷凝器可在EDS日常工作中获得出色的材料反馈灵活、强大、经济实惠台式扫描电镜的智能替代品，用于材料分析获取结果的时间短，通量高	从任何样品中都能获得准确的可重复结果快速简便的实验设置蔡司Gemini技术灵活检测，图像清晰 Sigma 560具有出色的EDS几何结构	高图像质量和多功能性高级成像模式高效检测，出色分析蔡司Gemini技术探测器种类繁多，覆盖范围广	FIB-SEM分析中的理想三维分辨率离子束和电子束样品制备工具受益于额外的飞秒激光器 EDS、EBSD、WDS、SIMS等通过三维目标分析获取更多样品信息
	蔡司EVO	蔡司Sigma	蔡司GeminiSEM	蔡司Crossbeam

蔡司扫描电镜：工业用显微镜解决方案

蔡司Gemini光学系统的发展历程
蔡司快速三维失效分析关联工作流解决方案。
跨尺度材料分析只需四个步骤。
简化扫描电镜上的本地化和导航：蔡司ZEN Connect
利用蔡司Xradia、蔡司Crossbeam、蔡司Orion制备和分析固态电池

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探索用于电子显微镜的ZEISS ZEN core：直观、精简、独特。优化的工作流程集成了图像采集和EDS分析功能，让所有用户都能体验到扫描电子显微镜（SEM）的轻松操作和便捷导航。在专为提高工业效率而设计的强大生态系统中，享受端到端的无缝体验。

用于电子显微镜的ZEISS ZEN core：90秒解说
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工业用蔡司Gemini技术。蔡司可为各种应用提供合适的解决方案。观看视频，了解Gemini技术的发展和优势。

蔡司Gemini光学系统的发展历程
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观看有关我们的关联工作流解决方案的视频！了解如何利用蔡司解决方案轻松跨技术使用数据，以及如何获得可靠和高效的结果。

蔡司快速三维失效分析关联工作流解决方案。
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宏观结构是什么样的？如何在大量样品中找到感兴趣区域？如何访问这些感兴趣区域（ROI）？如何进一步分析？

跨尺度材料分析只需四个步骤。
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在一个地方对同一样品的不同显微图像和数据进行组织、可视化和上下文关联。不同比例的图像之间的相关性可叠加在工作区中，便于导航。

简化扫描电镜上的本地化和导航：蔡司ZEN Connect
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通过检测完整的样品，可以确定影响电池质量和使用寿命的成分变化。蔡司工业用显微镜解决方案提供无损和高分辨率的三维分析，以及对质量检测十分重要的关联分析。

利用蔡司Xradia、蔡司Crossbeam、蔡司Orion制备和分析固态电池

直观、精简、独特用于电子显微镜的ZEISS ZEN core

将ZEISS ZEN core的体验从光学显微镜无缝转移到电子显微镜，享受高分辨率成像、精确测量、ZEISS EDS分析和强大的深度学习分析程序的优势，所有这些都集中在一个统一的平台上。提高效率，探索工业显微镜的全新可能性。

蔡司简化了扫描电子显微镜（SEM）的操作和导航

创建自定义工作流，直观操作电子显微镜。借助ZEISS ZEN core全面探索样品，该软件将光学显微镜和电子显微镜功能集成到一个用户界面中。受益于高效导航和可调整的工作台，无论技能水平如何，用户都能无缝执行各种工作流。

简化工作流 - 集图像采集与ZEISS EDS分析于一体

通过将先进的FE-SEM和EDS技术相结合，工业领域的用户现在可以在一个无缝衔接的界面中获取SEM图像并分析化学成分。这种集成消除了在计算机、显示器或软件之间切换的需求，在推进关联工作流的同时提供高质量的可靠结果。

利用AI技术训练来提高效率

在材料分析中，成像只是开始，真正的价值在于数据。基于AI技术的图像分析虽然具有挑战性，但对后续步骤至关重要。

由AI驱动的机器学习算法可以实现工作流程的自动化，提高速度和可靠性。用户可以通过含内置AI工具包的材料应用程序，在图像分析或其他任务中直接应用AI算法。更多任务可以使用可选的AI工具包或arivis Cloud来执行，例如ZEN Intellesis的一项功能实例分割。

ZEN core是蔡司的软件平台，具有直观的界面和先进的关联显微镜功能，用户可以快速获取概览图像，并轻松识别感兴趣区域，以便在不同显微镜模式下进行高效分析。

理学硕士Tim Schubert 德国阿伦大学材料研究所成像专家

聚焦关联显微镜
蔡司ZEN Connect

组织和可视化不同的显微镜图像，将多模态数据连接到一处。这一开放式平台使您即使在使用第三方技术的情况下，也能快速从一般概览转到高级成像。借助ZEN Connect，您不仅可以对齐、叠加和关联所有图像数据。您还可以在不同的光学显微镜和电子显微镜之间轻松传输样品和图像数据。

蔡司ZEN Connect可实现
将不同类型显微镜（如光学显微镜和电子显微镜）的相关图像以连接图的形式呈现。这对详细研究大型概览图像（如电池）大有裨益。该模块可导入和关联非图像数据，如EDS结果，与出色的EDS系统制造商兼容。
聚焦关联显微镜
蔡司ZEN Connect

ZEN Connect以微小的投入为您提供众多相关数据：所有感兴趣区域都会在一次性对齐后自动检索，并在上下文中显示。您还可以组织来自多种模式的数据。通过ZEN Connect获取的所有图像均可保存在一个结构良好的数据库中。每个图像文件会自动获得一个单独预定义的名称。每个叠加图像及其连接的数据集都易于寻找，用户还可通过全新的过滤功能搜索显微镜类型。

可视化的数据收集：
支持导入和附加非图像数据，如报告和说明（pdf、pptx、xlsx、docx等）。

轻松导航：
点击概览图像，在全图叠加中检查或重新评估任何感兴趣区域。

更智能、更省时
蔡司ZEN Intellesis

通过使用成熟的机器学习技术（如像素分类或深度学习），即使是非专业用户也能通过蔡司ZEN Intellesis获得可靠、可重复的分割结果。只需加载图像、确定类别、标记像素、训练模型并执行分割。

该软件只要在几张图像上训练一次，便能自动分割成批的数百张图像。这不仅节省了时间，还减少了用户造成的偏差。所有耗时的分割步骤都由功能强大的机器学习算法进行处理。

蔡司ZEN Intellesis
通过机器学习实现颗粒识别，为颗粒识别、学习图像分割和对象分类提供更高的精度。

Intellesis Object Classification
用于对分割后的颗粒进一步分类，并将其分为不同的子类型。随后可以利用这些信息对每种类型的颗粒进行计数。
更智能、更省时
蔡司ZEN Intellesis

ZEN Intellesis支持对来自多种不同成像源的多维图像进行轻松分割，包括宽场、超分辨率、荧光、无标记、共焦、光片、电子和X射线显微镜。ZEN的评估模块随后可根据工业标准自动创建报告和进行测量。

在按类型进行后分割分类时，ZEN Intellesis采用了一种创新方法。相较于典型的机器学习解决方案只查看单个像素的方法，其对象分类模型会使用每个对象的50多个测量属性来自动区分和分类。根据表格数据，这种分类过程比通过专门训练的深度神经网络进行的分割要快得多。

层厚示例：
CIGS太阳能电池层的FIB截面叠加：Crossbeam 550 InLens探测器（右）和ZEN Intellesis机器学习分割（左）后的结果。