蔡司VAST XXT

蔡司VAST XXT

用于高精度测量的扫描测头

蔡司VAST XXT接触式扫描测头可通过蔡司RDS关节式系统实现准确扫描,适用于各种应用。

  • 在RDS上灵活扫描
  • 高测量精度
  • 紧凑的设计

特点

测头与蔡司RDS组合使用

使用灵活,应用广泛

在许多情况下,用户希望将关节式系统的灵活性与扫描功能相结合。蔡司VAST XXT正是完成此类任务的理想选择。

与切换测头相比,蔡司VAST XXT不仅提高了测量的操作可靠性和精度,还扩展了测量托盘,将扫描功能纳入其中,从而为您提供形状信息。

使用中的蔡司VAST XXT测头

紧凑的设计

关节式系统上的扫描测头设计紧凑、重量轻,需要不同的测头模块。通过三个模块,蔡司VAST XXT涵盖了这种测头设计的典型测针长度范围。

该传感器可接受长达65毫米的横向测针,也适合永久性安装。

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