
蔡司VAST XXT
用于高精度测量的扫描测头
蔡司VAST XXT接触式扫描测头可通过蔡司RDS关节式系统实现准确扫描,适用于各种应用。
特点

使用灵活,应用广泛
在许多情况下,用户希望将关节式系统的灵活性与扫描功能相结合。蔡司VAST XXT正是完成此类任务的理想选择。
与切换测头相比,蔡司VAST XXT不仅提高了测量的操作可靠性和精度,还扩展了测量托盘,将扫描功能纳入其中,从而为您提供形状信息。

紧凑的设计
关节式系统上的扫描测头设计紧凑、重量轻,需要不同的测头模块。通过三个模块,蔡司VAST XXT涵盖了这种测头设计的典型测针长度范围。
该传感器可接受长达65毫米的横向测针,也适合永久性安装。