蔡司测针

用于精准测量的精密测针

用于三坐标测量机的蔡司测针为您的测量任务提供了完美的解决方案。有了球形测针、圆盘测针和星形测针等多种测针系统，您每次都能获得准确且可重复的结果。

准确可靠的测量
品质出色的测针
快速、轻松地访问测针

这就是为什么蔡司的测针如此特别：

精度：我们的测针能够进行准确测量，并以最优精度提供可重复的结果。
质量：得益于最新的生产技术，我们的测针十分精准、稳定且耐用。
格外出众：与传统的M3测量探头相比，我们的蔡司M3 XXT测针实现了更高的整体系统刚度。
简单快捷：凭借我们出色的标准测针产品组合和蔡司计量商店，您可以随时获得所需的测针。
种类繁多：使用我们的专用测针，您可以测量一切。除球形测针外，我们还提供星形测针、圆柱形测针、T形测针以及许多其他测针。

保证始终如一使用高质量蔡司测针

质量决定成败：测针虽小，却是三坐标测量机的一部分，其接触待测工件，并通过相应的测量探头进行高精度测量。

质量较差的探头会对测量精度产生很大影响。这会导致严重的测量误差，从而增加废品率。质量对测针的使用寿命也有很大影响。使用高品质的蔡司测针可以有效避免这一问题。

认可质量

如何识别超优质量的测针？肉眼很难辨别，但在显微镜下，往往会有明显的区别。测量探头的质量尤其体现在表面光洁度和接缝设计上。除其他因素外，这也是一个决定性因素，其决定了使用同一支测针能在多长时间内测量出准确的结果。质量还包括尽可能高的测针刚性、测针元件的几何精度和测量探头球面的最大圆度。蔡司严格的制造过程控制保证了测针的最高质量。
强化生产技术

与传统的制造过程相比，焊接和激光加工等最新技术以及高端材料的使用显著延长了测针的使用寿命。这样既能节省宝贵的资源，又能为客户提供精细出色的产品。高精度的测量探头还附有证书，以保证所承诺的精度。

这就是蔡司M3 XXT测针的与众不同之处

您知道吗，与传统的M3测量探针相比，使用蔡司M3 XXT测针，可使测针系统的整体刚性显著提高。XXT转接头基体的直径比普通转接头大1 mm（即接触面更大），外加采用钛合金，从而实现这一硬度。如果没有相应的转接头，不建议在M3 XXT系统中使用M3测针。

蔡司Special Styli让一切都可测量

钻石涂层整体式测针

蔡司Diamond!Scan mono是一款带有钻石涂层的整体式测针。由于测量探头的测球和测针是一体成型的，因此不会出现测球断裂的危险。单片测针适用于任何直径及任何技术的长度。由于金刚石涂层使用寿命长，扫描过程中也几乎没有磨损和材料堆积。
星形测针

星形测针由组合成星形的球形测针组成，可在不同坐标方向进行测量。使用球形测针从侧面进行探测只能在有限的范围内进行，而使用星形测针则可以选择与被测表面正交的测针进行探测。
旋转式探头

旋转测量探头可用于测量倾斜的孔或表面。测针的角度变化幅度最大可达110°。需要一个特殊的支架来固定测针。
光盘测针

圆盘测针除其他外，还可用于测量旋转对称的工件上的凹槽或凹孔。然而，表面粗糙度通常会出现强烈的过滤现象。与圆盘测针相比，球形圆盘测针的设计实现了更高的精度。
圆柱形测针

圆柱形测针为二维测量，特别适用于薄板。使用圆柱形测量探头也能很好地测量狭窄的工件边缘。但是，探头轴必须与工件上的特征轴非常精准地机械对齐。

还有一种特殊形式的球形圆柱测针，也主要用于金属板测量和金属板边缘测量。其末端为球形，因此可以额外测定表面的平整度等。
半球形测针

半球形测针适用于测量暗切和需要大直径、低重量测量探头的应用场合。为了增强这种效果，测针还可采用空心半球的特殊形式。
T型测针

T-styli由两个相对的测量探头球组成，与轴成90°。这些测针尤其适用于测量凹槽等对立的底切。此外，T-styli还可用于测量难以触及的点（如工件底部）。
L型测针

使用L-styli时，测量探头球面与测针轴成90°角。此类测针呈L形，尤其适用于测量孔内的凹痕。此外，L-styli还可用于测量难以触及的点（如工件底部）。
滚花测针

此类创新型测针的特点是轻便易握，塑料包覆成型适配器带有棱纹。这样可以方便手工固定，并有效减少工具造成的损坏。
测针尖端

测尖测针又称锥形测针，需用于两项测量任务。测针可用于沟槽或极小孔径的自定心探测。另一方面，当必须通过点测头接近工件上的精准指定位置时，就会用到它。尖头测量探头的标准材质为硬质合金。
高精度测针

在某些应用中，测针需要达到最优精度。由于等级的高斯分布，5级质量的标准测针和3级球形测针不适合用于高精度测量。凭借其高精度测针（可通过蓝色适配器识别），蔡司可提供包括证书在内的球面精度保证。例如，可提供经认证的圆度为< 60 nm 的测针和保证直径公差为± 0.001 mm 的测针。

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在寻找理想的测针？

全球最广泛标准测针组合中任意长度的测针

检查并防止测针磨损

即使是高质量的测针也是消耗品，必须定期检查。这是防止测量误差的唯一方法——因为从长远来看，测量探头元件的磨损和材料崩裂是不可避免的。不过，有了蔡司Diamond!Scan测针，由于其材料耐用，这一过程可以大大延长。

如有疑问，应定期更换测针，并以最优精度测量结果。尤其是在发生碰撞或测针掉到地上的情况下。

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专家建议

您可以借助显微镜和强光源（>1000流明）轻松地自行检查测针，必要时更换测针。为此，我们建议用10至40倍放大镜检查直径为2-8mm的测针球。对于测量小于1mm的探头元件，需要放大40至80倍才能很好地检测材料磨损。

检测并清除探头上的积聚材料

根据工件和探头尖的材料，测量探头尖上的材料堆积是不可避免的。因此，必须定期检查和清洁测针，以减少材料堆积，并防止测量误差。如果工件表面较软（如铝），材料堆积的问题会更严重。在这里，蔡司Diamond!Scan测针是理想的选择，因为使用金刚石球体可将测针上的材料堆积降至最低。

与测针磨损一样，我们建议通过显微镜来快速检测材料堆积。

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专家建议

使用蔡司清洁湿巾以最小的压力清洁测针。其同样适用于清洁半球形板和校准球。对于顽固的污渍，在适当的清洁溶液中浸泡片刻（然后用蔡司超细纤维布擦干）即可缓解。同样实用的测针：三坐标测量机清洁套装。

此外，为避免测针受到其他污染，在每次测量过程开始前，要确保工件表面、导轨和工件夹具清洁干净。

使用#measuringhero了解更多有关测针的信息

测针不仅由多个部件组成，其本身也是整个测针系统的一部分。测针与三坐标测量机和连接件、加长杆、夹具或夹持插件相结合，可提供具有最高精度和重复性的测量结果，并具有可靠的蔡司质量。从我们的#measuringhero处了解更多有关测针的作用和测针生产步骤的信息！

如果测量结果出现强烈波动，90%的情况是由于测针系统出现了问题。要解决这个问题，应该检查测针系统的再现性，而必要时进行优化。

其他因素也会影响使用测针测量的准确性：

环境影响，尤其是温度
夹具
测量程序
机器
您可以通过三个步骤检查测针系统的再现性。多次重复步骤2和3，并在评估工具（如Excel或PiWeb）中比较结果的可重复性：

校准测针系统
用基准测针测量校准球，并将球的位置设置为零
使用测针系统的所有测针测量测球，检查是否存在偏差
探头球的标准精度为5级。要实现更高精度的形状测量，需要圆度更好的钢球，以尽量减小测量误差。但请注意，3级球并不一定比5级球好，因为探头球的等级需在批量生产过程中确定。因此，如果某个制造批次的选择符合公差要求，则假定所有钢球都在该等级范围内。因此，小球的精度分布符合高斯分布。这就是为什么精度较差的球也可能在3级中出售。

如果需要圆度非常精准的测针，则应使用具备证书的测针。只有这样，您才能确保维持指定的圆度，并满足您的要求。
与其他工具一样，测针也会自然磨损。磨损、划痕或崩裂等损坏，或材料涂抹、油污或油漆等污染，都会严重影响测量精度。由于肉眼通常无法看到这种情况，因此应在显微镜下检查测针是否损坏或受到污染。多久进行一次检查取决于测针的应用或环境参数。

我们建议通过一种工具卡（生产设备也可使用）来了解总体情况，并据此确定检查周期。
测针的使用时间完全取决于应用类型。磨损发生在探头球与被测工件接触的地方。如果总是使用同一个点，例如扫描平面，那么测针的使用寿命就会比扫描圆圈时短。这是因为整个球体的赤道都在投入使用。影响测针寿命的其他因素包括扫描距离、速度、探头力、测量环境和被测材料。

我们建议您为每个测针制作一张质量卡，并用它定期测试测针。这将为特定测针提供可靠的平均使用寿命。
如果发生碰撞，应在测环上检查测针系统。由于这些都是高精度测量设备，因此不应冒任何风险。应特别注意带有碳纤维轴的测针或加长杆，因为可能有个别纤维被撕裂。这只能在环上检测。如果球还在杆上，带有硬质合金或陶瓷杆的测针在碰撞后仍可使用。

注意事项：使用燕尾球时必须格外小心！与轴上粘接或焊接的滚珠相比，榫接的滚珠不一定会脱落。它们在耳轴上可能会保持松动，从而导致测量误差。不幸的是，这种情况经常在不知不觉中发生，因此在发生碰撞后，应立即检查燕尾球。
如果工件与测针轴而非测球接触，则存在轴碰触。由于轴碰触也会在探头上触发一个信号，但却没有定义，因此轴碰触会导致不正确的测量结果，而这些结果往往不会被注意到。使用小探头球进行测量时，其轴通常较细，在探头探测过程中，轴有可能会弯曲。如果使用的角钢或立方体等紧固件质量差或调整不准确，也可能发生触轴。
规划测针系统时应注意以下几点。

测针系统应该

尽善尽美
尽量减少连接点
尽量减轻重量
热膨胀尽可能小

您还应确保使用高质量的元件，因为测针系统的质量对测量结果的精度有着100%的决定性影响。