任何探测方向的准确测量

ZEISS XDT

蔡司XDT多点探头

可以实现高精度的多点探头

由于巧妙结合了众多技术特点,XDT 多点探头可以应用于极其广泛的领域,并在所有的探测方向上均获得高精度的结果。

ZEISS XDT

特点

最大的准确性和可靠性

在许多情况中,用户需要关节式探头座的灵活性。取代了接触式探头的XDT 能提高操作的安全性和测量的精度。

有别于单点触发式测量, 利用滑动获取测量点的单点扫描可提供结果高精度和可靠性。

利用“单点扫描”,结果基于至少 100 个测量点产生。再也不用担心会产生离群点,大大确保了精度的提升。

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Contact probing systems Manual, EN

Contact probing systems Manual, EN
页: 142
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ZEISS IQS Portfolio Overview EN

ZEISS IQS Portfolio Overview EN
页: 56
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