全方位接触

蔡司主动式扫描技术

保持接触

精度更高、速度更快、更加灵活的接触式测量

接触式探头是实现所需的极高精度的正确选择。在接触式测量中,接触式探头逐点扫描元件的表面。蔡司提供各种接触式探头,确保为您的应用提供最佳解决方案。

保持接触

蔡司扫描技术

与接触触发式单点测量相比,传统扫描方式的操作安全性更高、数据更精准且具备更大通量。整个部件的测量在一个流体运动中进行,因而扫描速度更快,同时可摒除外部环境影响,收集更多数据。

全方位接触

蔡司主动式扫描技术

主动式扫描将测量提升到一个新高度:电磁体通过软件控制对测针施加稳定的低力度,因此无论其大小和方向如何,都无需重新定位即可扩大运动范围。实时偏移监测,支持自动调整。尽享更高的灵活性、速度和精度,为您未来的应用保驾护航。

单点测量与蔡司扫描技术

如何测量一个圆…

...采用单点:

  • 能够处理通量低且公差大的问题
  • 可与蔡司RDS结合使用
  • 通过插值预估测量点之间的状态
  • 需要经常重新定位探测头
  • 有可能忽略重大偏差

更多信息…

触发式测量也被形象地称为”啄木鸟“法——测量一个点,移至另一个位置,再次测量,然后重复上述操作直至工作完成。因而它能够应对低部件通量和较大的测量公差。然而,由于测针始终未接触测量点之间的表面,因此该方法生成的数据较少,可能无法提供较完整的概览。而且由于用户必须在每次测量前重新定位,该过程比使用扫描路径进行测量要慢。

…采用蔡司扫描技术:

  • 测量数以千计的点,精度极高
  • 高通量、出错率更低
  • 可实现高扫描速度
  • 方法省时,直接提高产量

更多信息…

扫描包括一个流动且连续的运动,当测针在表面上移动时,可快速准确地沿一个路径测量数百或数千个点。这种工作流程更快,不仅能以更高通量反馈更多数据,还能在节省时间和成本的同时提供更高精度。以往认为触发式测量已经”足够好“的用户会发现,他们错过了许多只有扫描才能提供的实质性好处。

对于日常挑战的益处

单点测量
蔡司扫描技术

完整的测量工作流程

通过消除插值(仅评估各测量点之间情况),扫描可明显降低风险,同时生成更多数据, 从而获得更高的扫描精度和准确性。为确保扫描大量或所有零部件并识别任意偏差,高测量通量也是至关重要的:更快的扫描速度意味着所需的测量机更少,并可更迅速地发现问题,从而降低部件的报废和返工情况。

即刻了解扫描:

全方位接触

蔡司主动式扫描技术

作为主动式扫描的发明者,蔡司正以前沿的主动式扫描理念将这项技术提升到一个新水平。这一技术采用软件控制的电磁体和磁力控制器,在测针上保持稳定的低力度,提供快速精准的扫描结果,且比以往应用更灵活。

如何使用主动式测头

进行测量

优势

  • 内置电磁铁,可在扫描过程中实现净零力
  • 远远快于传统扫描
  • 测量过程中对力度进行归一化处理
  • 自动弯曲校正
  • 软件持续更新运动情况
  • 测头系统噪音明显降低,无需对结果进行“平滑”处理
  • 长而重的测针组合可以满足更多应用需求
  • 包含具备专家模式的蔡司VAST导航器功能
  • 利用蔡司VAST功能,尽可能提高三坐标测量机生产率

即刻了解主动式扫描:

深入了解该项技术:

主动式测头:尽显奇迹

主动式扫描测头使用软件控制的电磁体以及施加净零力的力度控制器。这一方法提高了测量速度,实现更大精度,也是测量非标准几何形状的理想选择。

传统测头施加可调节的力

传统扫描测头使用弹簧将测针固定在中立位置,并使用霍尔传感器测量偏移量。所施加的力会根据表面形状和特性进行调整。

蔡司主动式扫描的功能

充分发挥三坐标测量机的潜力

蔡司VAST导航器

扫描速度高

每个主动式扫描系统中都包含蔡司VAST导航器模块。通过考量电桥惯性及测针的尺寸和长度等因素,使主动扫描技术更进一步。在极大扩展或完全消除影响传统扫描的某些关键限制时,该技术为至今无法解决的部件开辟了先河。

  • 灵活测量(尺寸、重量等)
  • 高速扫描外径
  • 扫描时考虑到弯曲力

蔡司VAST导航器的专家模式

灵活的扫描参数

该模块通过扫描的内容、适用公差及待评估特征(如圆度、位置和尺寸)等更改扫描参数,以提升定制性能。它还可以引导蔡司VAST导航器根据相关特性计算出准确的速度。由于系统会自动给出正确的扫描速度建议,用户无需亲自计算这些数值。

  • 自动调整速度以匹配公差变化
  • 考虑到系统的弯曲参数和测头尺寸
  • 使用全部数据来计算特定测量的准确值

蔡司VAST功能

大幅提升测量能力

用户可以通过蔡司VAST功能包中的两项动态技术大幅提高生产力。FlyScan创建了一个比传统方法更短的标称路径,可节省高达40%的时间。

  • 对于具有复杂几何形状、中断及空隙的复杂扫描任务来说十分理想
  • 由于无需对传感器重新定位,可极大提高扫描速度、拓展分析范围
  • 零噪音测量,无需对结果进行平滑处理

准备好进行接触式扫描了吗?

蔡司扫描测头

ZEISS VAST XXT

与众不同的扫描方式

蔡司主动式扫描测头

ZEISS VAST XT gold

主动扫描“全系统兼容”

ZEISS VAST XTR gold

以速度赢得高分

ZEISS VAST gold

确保高扫描测量性能

一切由您选择

可灵活搭配蔡司CONTURA和蔡司PRISMO系列使用

蔡司是接触式扫描技术的专家。蔡司CONTURA和蔡司PRISMO系列的系统涵盖各类选项,有主动式或传统测头可供选择,确保适应所有面向未来的任务。该性能基于蔡司多应用测头技术(mass technology),支持快速表面采集和精准单点测量。

蔡司多应用测头技术确保操作高度准确,还可在一个测量设备上快速更换大量蔡司传感器。无论是带RDS的传感器还是带固定测头系统的传感器,是光学式还是接触式,是传统型还是主动式,多应用测头都能提供极高的灵活性。

蔡司CONTURA

为当下和未来的所有挑战做好准备

蔡司PRISMO

质量决定一切