开发时间缩短50%

“借助计算机断层扫描技术，我们可以深入了解产品的内部结构，而这在其他情况下是不可能实现的。只有这样，我们才能真正看到材料在真实条件下的表现，从而为重新计算和后续调整提供信息。”starlim//sterner的研发负责人Johannes Pichler解释道。几何形状和材料组合会对产品产生怎样的影响，从外部是看不到的，也很难规划。因此，starlim//sterner过去不得不使用复杂的（有时是有损的）方法进行质量检测，这大大延长了开发过程。

“过去，我们主要依靠产品开发人员的经验和常识。现在，我们可以绝对准确地测量每一个细节，并且具有重复精度。”Pichler说道。他认为，真正的优势并不在于无损测量的速度，而在于质量。starlim//sterner每年的产量高达数亿件，如果出现缺陷，绝对会造成灾难性的影响。“CT测量使我们能够大幅延长产品的使用寿命。部件的长期稳定性提高了产品的总体质量，同时加强了客户品牌的竞争力。”这位开发负责人解释说。