采用光学技术的5个理由

采用光学技术的5个理由

高效的三维测试

光学测量技术在三维测试中的优势

利用非接触的光学测量技术,可以更轻松地分析变形和运动。此外,这一方法的可视化处理使测试结果的传达和交流更加直观。与传统的应变和位移传感器相比,光学计量和功能强大的ZEISS CORRELATE软件可在材料、部件和结构的机械和热测试中提供更高效的工作流程。

继续阅读,充分了解我们的解决方案在您的测试流程中的潜力。

采用光学技术的5个理由

节省时间和成本
原因#01

节省时间和金钱

使用传统的接触传感器既费时,又会限制您的数据库。光学测量技术在测试设置过程中具有重要优势:

  • 无需为应变计、LVDT或加速度计等单独的接触传感器布线
  • 无需对单个接触传感器进行校准和信号调节
  • 无需辅助夹具作为LVDT的参考点框

结果是:在设置和测试过程中节省更多时间和费用。

获得全面的结果
原因#02

获得全面的结果

光学测量技术可提供全场应变、位移和形状的测量结果。再也不用担心应变片或LVDT放错位置了。由于准备工作简单,您可以捕捉到大面积的测量区域,并拦截意想不到的应变热点。利用蔡司INSPECT Correlate高分辨率相机技术,使用ARAMIS传感器和蔡司INSPECT Correlate可以轻松实现测试对象局部变形效果的可视化。例如,在材料测试中,您不必依赖于材料样品均匀变形的假设,而是可以获得详细而全面的应变数据,从而准确描述材料特性。

测量从泡沫和铝箔到混凝土结构的任何材料
原因#03

测量从泡沫和铝箔到混凝土结构的任何材料

如采用光学技术,在材料和测量环境方面将获得无限的可能性。即使是精细的材料、复杂的几何形状、极小和超大的测试物体也能进行分析。速度和温度同样不是障碍。由于是非接触测量,因此可以拦截较高的温度和测试物体的移动。

利用全场结果优化模拟
原因#04

利用全场结果优化模拟

光学测量技术的测量结果使复杂的三维运动以及边界条件假设的检查变得切实可行。只需一个测量系统,便能同时获得应变分布、位移场和测试对象几何形状的数据,因此使用光学传感器进行三维测试非常高效。收集到的综合数据可作为边界条件参数输入模拟,从而实现高精度模拟。

测量动态过程
原因#05

测量动态过程

光学三维测量还适用于评估运行过程中的动态变形。由于采用非接触测量原理,因此无需为任何接触传感器布线。因此,测试系统中不会引入可能影响被测部件性能的额外重量。此外,振动分析中的光学测量技术还能让用户同时发现任意数量的三维坐标和位移。

有助于检测:

  • 振动,例如可能引起干扰噪音的振动
  • 摇摆,这可能会对与其他部件的互动产生负面影响
  • 工作挠度形状
ZEISS INSPECT Correlate
ZEISS INSPECT Correlate

ZEISS INSPECT Correlate

利用ZEISS INSPECT Correlate,您可以分析位移、旋转或角度变化等动态过程。该软件使用直观、功能实用,可为您的三维测试应用提供最佳支持。


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