蔡司scatterControl

出色的CT图像质量

优化图像质量的硬件解决方案

蔡司scatterControl模块可显著提高图像质量,大幅降低CT扫描的散射伪影。这些改进有助于后续的数据处理和合适部件的评估步骤,从而实现更准确的表面测定和缺陷分析。该产品适用于体积大、密度高的部件,如增材制造金属部件和铝铸件,甚至包括钢镶嵌件,以及其他含有高密度材料的组件。

该模块可用于蔡司METROTOM 1500 225 kV G3,既可作为改造解决方案,也可作为购买新系统的一部分。即刻使用蔡司scatterControl升级您的系统,享受出色的图像质量,更轻松地进行数据评估。

您如何从蔡司scatterControl中受益

  • 更高的图像质量,更好的缺陷检测

    蔡司scatterControl通过减少散射辐射造成的伪影,显著提高CT图像质量。不同部件之间的对比度得到提高,简化了缺陷检测:以往几乎无法评估的部件区域现在也可进行评估。

  • 改进了表面测定

    不仅是缺陷检测,蔡司scatterControl也提高了表面测定的整体质量。这对于高难度部件的计量应用来说是一个相当大的优势,因为在这些工件的表面测定过程中,如不对伪影进行校正,将会干扰表面测定过程。

  • 利用VAST模式快速扫描

    蔡司scatterControl可与Stop and Go和VAST扫描模式配合使用。scatterControl解决方案可为锥束CT提供可与扇束CT相媲美的出色图像质量,但扫描时间可提高1000倍。

  • 易于使用

    蔡司scatterControl是一键式解决方案。该模块可与METROTOM OS的其他实用功能(如VHD(虚拟水平探测器扩展)、AMMAR(高级混合材料伪影减少)或VolumeMerge等)无缝配合,并完全内置在软件中。

蔡司scatterControl用于更好地分析缺陷

蔡司scatterControl可显著提高各种部件和行业的CT扫描图像质量。其原因显而易见,从高效的伪影去除到模块与工件的相对定位,都使蔡司scatterControl成为了理想的选择。了解如何使用该模块进行出色的缺陷检测和分析。

减少伪影,提高CT图像质量

蔡司scatterControl带来了明显的改变。请通过滑块单元比较使用和不使用scatterControl模块所能实现的X射线图像质量。改善后的图像对比度更高,伪影更少,细节更加清晰。

出色的质量源于模块定位

因其模块化的工作原理,蔡司scatterControl带来了比同类产品更高的质量:它位于射线管和探测器之间。像致密的增材制造部件之类的较小物体可放置在该模块前方,较大物体则可置于其后方。无论哪种放置方式都可行。此外,内置的物理碰撞传感器和精密的碰撞预测软件可有效防止碰撞事故发生。

适用于各种部件和行业

  • 铸造:大型铝或镁部件,甚至是带钢嵌件
  • 汽车:带钢嵌件的铸件、电控器件
  • 增材制造:高密度金属打印部件

改进的三维检测

体积数据的改进使评估更加容易,可在不产生伪影干扰的前提下确定和渲染三维表面。许多伪影是散射辐射造成的典型结果,会在三维图像中产生伪表面,从而影响测量的精准性。

用于X射线检测的可靠评估软件

蔡司自动缺陷检测(ZADD)软件能可靠地检测出注塑、医疗、增材制造等部件中极小的缺陷。

有关蔡司scatterControl的常见问题解答

  • 大型铝或镁部件、带钢嵌件的铸件、电控器件以及高密度金属打印部件等都非常适用蔡司scatterControl。

  • 蔡司scatterControl是一键式解决方案。内置了软件和硬件碰撞保护,这意味着您无需额外步骤即可直接启动扫描。

  • 是的,蔡司scatterControl是蔡司METROTOM 1500 G3的理想升级解决方案。可能需要对METROTOM OS等进行更新,从而通过scatterControl模块增强您的CT功能。

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