光学测量

光学和多探头测量服务

利用先进的光学测量技术提高效率

160多年来,蔡司这个名字一直是光学和精密的代名词。光学测量技术在质量卓越中心占有特殊地位。光学测量技术的优点是点密度高、速度快。能让您在极短时间内获得详尽的测量结果。我们使用各种系统:蔡司O-INSPECT系列的多传感器三坐标测量机、用于非接触表面评估和地形测量的白光传感器,以及最新的三维扫描仪。

您是否希望对整个零件表面进行数字化处理并加以分析?蔡司的高精度三维扫描仪可以满足您的需求。它们能在短短几秒钟内记录极大量的高精度数据。数控导轨转台可实现有效的测量和数字化。

由于点密度极高,您可在短时间内对部件进行整体评估。可方便可靠地生成计划/实际对比、重新鉴定和工具校正数据。

光学测量技术的优势

应用领域

  • 质量控制/检测
  • 将测量数据与CAD数据集进行标称/实际对比
  • 工具制造和模型制造
  • 地形测量、表面测量技术
  • 模具重建
  • 扫描数据生成加工路径
  • 模具验收后的实际文件
  • 设计
  • 扫描设计模型,用于CAD下游处理和文档编制
  • 快速制造/原型制作
  • 逆向工程
  • 记录历史文物、考古等内容

蔡司光学系列

从不同角度发现世界 - 光学测量技术有哪些优势?

下载

  • O-INSPECT Accessories Infosheet, EN

    421 KB
  • O-INSPECT Accessories Flyer A6, EN

    369 KB
  • O-INSPECT Flyer, EN

    1 MB
  • ZEISS O-DETECT Flyer, EN

    1 MB
  • ZEISS O-DETECT One-page Overview Digital Flyer, EN

    187 KB
  • ZEISS O-INSPECT duo Product Flyer EN

    4 MB
  • ZEISS Quality Excellence Center Brochure Online EN

    1 MB


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