软件

ThinProcess® 过程监控软件

使用ProcessLinker，您可通过数据可视化以及与更高级别控制系统的通信，密切关注工艺信息和参考值，将数据以文档格式存储在SQL数据库中。

个性化定制功能

对玻璃、薄膜或纸张等不同基材的大面积涂层的工艺过程和质量数据进行测量、显示和监控。ThinProcess®软件专为ThinProcess®光谱仪系列产品设计，可以根据您的具体需求量身定制，依托于配方，并可配置为只显示您想要查看的参数。

从颜色和厚度到光谱评估和吸光度，ThinProcess®软件可执行各种计算和测量。由于可使用自定义脚本扩展其功能，它具备了优异的灵活性。此外，它还能测量太阳波段特性和损耗统计等参数。

借助ThinProcess®软件，您可以创建个性化概览，并根据自己的具体需求来设计软件界面。您可以将任意大小、数量或样式的图形、趋势、数值和图表放置在屏幕上任何所需的位置。此软件还具有在测量值超标时的报警功能，一个数据历史记录模块，以及与SCOUT软件和化学计量学模型的无缝集成。

FilmDetect

特别适用于玻璃和薄膜加工

FilmDetect是InProcess软件的版本之一，适用于薄膜应用的需求。其特定功能包括可确定薄膜厚度，另外还具有满足玻璃或薄膜加工行业所需的计算模块。
ProcessLinker

建立更加可靠的连接

ProcessLinker可以将蔡司光谱仪控制软件连接到您自己的系统。通过将蔡司技术直接无缝集成到生产线中，您将从准确的测量数据和过程优化中获益。广泛多样的选件可以满足不同的接口需求，例如可与Profibus、Profinet、Modbus（RTU、TCP）、EtherNet/IP、OPC UA、SECS/GEM PV2等现场总线连接。
OSIS-SDK

支持软件开发

OSIS SDK是支持蔡司光谱仪应用程序开发的软件开发工具包。您可以通过提供的模板使用几种方法从头创建一个应用程序，也可以使用NuGet软件包将OSIS SDK添加到现有的项目中。SDK和底层OSIS框架基于.NET Standard 2.0，且不受特定平台或架构的限制。

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