蔡司ZEN core

从材料实验室到生产的互联显微镜软件套件

ZEN core处理的不仅仅是显微镜成像, ZEN core还是集成像、图像分割、分析和数据连接工具于一体的全面软件套件,用于互联材料实验室中的多模态显微技术。

享受产品的优势:

  • 易于配置——易于使用。受益于自适应用户界面。
  • 高级成像和自动化分析。使用内置采集程序,充分利用可重复工作流程的一致性。
  • 互联实验室的基础架构解决方案。您可将来自不同仪器、不同实验室和不同地点的重要数据整合到一起。

产品优势

一个界面,适用于多用户环境下的所有蔡司显微镜

一个界面,适用于多用户环境下的所有蔡司显微镜

从入门级别的体视显微镜到全自动成像系统,ZEN core为蔡司显微镜和相机提供统一用户界面。ZEN core在多模态工作流中实现了光学与电子显微镜之间的关联,并在不同系统、实验室及地区之间实现了互相连通。

  1. 显微镜和相机控制
  2. 数据采集和分析
  3. 关联显微技术
  4. 后期图像分析
  5. 自动图像分割
  6. 全景分析
  7. 综合报告
  8. 移动端访问
  9. 中央数据管理
  10. 系统、实验室与地区之间的连通
  11. 进一步分析的接口

确保数据可重复性和完整性的用户管理

  • 根据您的需求,创建多个包含定义权限和角色的用户帐户。
  • 直接在ZEN core中创建和管理用户,或连接到ActiveDirectory并重复使用这些用户帐户。
  • 使用ZEN Data storage作为所有互联显微镜的中心枢纽,有效管理所有用户。
  • 使用密码保护访问,并利用扩展功能来设置密码规则和到期时间。
确保数据可重复性和完整性的用户管理

执行自动分割、全景分析和报告

ZEN analyzer是ZEN core的桌面版本,专为离线分析而设计。您的仪器不会被阻止进行后处理任务。相反,可使用它来运行其他实验——随时随地且高效。

  • 适用于图像分割和分析以及报告和工作模板创建的理想解决方案。
  • 提供ZEN Data storage的远程访问。
  • 使您能够使用ZEN core中的所有可用工作台,从而完全控制所有数据和模板,而且可从您的桌面访问。
执行自动分割、全景分析和报告

适用于金相学应用的材料模块

ZEN core包括用于测定晶粒尺寸、物相和层厚以及用于石墨颗粒分级和非金属夹杂物分析的材料模块,在统一的用户界面下提供所有重要的金相学应用。


铸铁分析

根据材料工艺参数和化学成分,铸铁中的石墨颗粒可能出现不同的形状和分布。这一点会影响材料的机械性能。

全自动分析石墨颗粒的形状和尺寸。根据EN ISO 945-1: 2008 + Cor.1:2010获取石墨的球墨数量。同时,可测定蠕虫状石墨的球化率,并且获取石墨颗粒的面积百分比含量。

铸铁分析:尺寸和形状分布
铸铁分析:尺寸和形状分布

晶粒尺寸分析

晶粒尺寸和分布直接关系到材料性能。依据国际标准,量化您的材料学样品的晶体结构。以下三种评估方法可量化表征您的材料:

  • 面积法可用于自动晶界重构
  • 截距法使用大量不同的弦类型,以交互方式识别和计数与晶界交叉点
  • 比较法使用标准比对图谱手动评估图像晶粒度
晶粒尺寸分析:截点法
晶粒尺寸分析:截点法

多相分析

在材料中,任一带有明显晶体结构的部分都可被称为“相”。相与相之间有明显的边界分割。相的分布和取向影响诸如硬度、强度、断裂延伸率等材料性能。
分析样品的相分布。全自动且精准地测定相的尺寸、形状和取向。使用此分布分析还可获取有关增材制造材料孔隙分布的信息。

多相分析:带有各种相分布的结果视图
多相分析:带有各种相分布的结果视图

涂层厚度测量

测量涂层和镀层的厚度,或者样品横截面中的表面硬化深度。

该模块能够以自动或交互方式评估复合涂层系统, 并根据当前梯度计算测量弦的长度。

在包含图像、样本数据和测量值的清晰报告中获取零件的结果,例如最大和最小弦长、平均值和标准偏差。

涂层厚度:对涂层进行自动检测
涂层厚度:对涂层进行自动检测

非金属夹杂物分析(NMI)

NMI的金相分析要遵循行业标准,ZEN core支持该行业标准。ZEN core可引导用户快速轻松地执行工作流程,生成符合标准的报告和夹杂物图库。

强大的检验视图和自动轴变形检测功能使分析变得轻松、直观并且可重复。通过利用额外的GxP功能,ZEN core用户能够在NMI分析中为客户提供完整的可追溯性和数据整合性,这意味着可对等级认证进行审查,这对于受监管行业的客户尤为有利。

NMI:全局结果视图
NMI:全局结果视图提供在氧化物夹杂、硫化物夹杂和伪影之间的切换选项。

比对图谱

该模块让您的挂图实现数字化。通过比对图谱,在您的屏幕上直接比较显微镜下的样品,

并从具有特定特征的不同图谱中做出选择。这些与晶粒尺寸、钢中碳化物析出或制备样品质量相关的内容将逐图渐次变化。

此外,该模块还提供图谱系列生成器供您自行设计比对图谱,例如针对质量控制中的合格/不合格标准设计比对图谱,或针对单个材料微观结构制备最佳目标图像。

比对图谱:与标准或定制挂图进行样本对比
比对图谱:与标准或定制挂图进行样本对比

高级成像和分析

光学显微镜的自动功能

ZEN core为您提供了自动图像采集的更多选择:

 
扩展景深

自动获取具有扩展景深的图像

 
在线全景拼图

在编码和非编码载物台上采集全景图像

 
任意形式的区域拼图

轻松定义拼接面积,创建高分辨率图像

 
Linkam载物台控制

在不同温度下观察材料

 
多通道图像采集

自动一次性多通道采集图像,如:多荧光通道或明场和暗场


ZEN Intellesis通过机器学习实现图像分割

图像分割是当今显微镜专家面临的一大挑战,但您可以通过使用机器学习进行图像分割来避免错误和主观偏好。

ZEN Intellesis的图像分割
该软件模块提供强大的机器学习能力,可用于包括3D数据集在内的多维图像分割。该模块用于多种成像模式的顺利整合,并对任何单一图像实现出色的分割效果。

  • 自动分析以前需手动处理的图像。训练一个模型以分割图像。
  • 运用您自己的专业知识来训练软件,可让它执行繁琐的图像分割。或导入我们在其他地方训练的专用网络(例如:www.APEER.com)
  • ZEN Intellesis分割可适应您的制备过程,因此可节省样品制备时间。由于存储的分析程序可以在一个又一个样品上反复使用、或者重新训练以处理新样品,因此可重现性得到保障。
图像分割模型训练 自动图像分割
图像分割模型训练:用户只需涂色标记几块区域即可使系统学习如何进行图像分割。
自动图像分割:在对图像分割模型进行训练之后,即可重复使用、分享并用于批量处理图像。

ZEN Intellesis Object Classification

有时,分割目标比如颗粒、夹杂物、晶粒是很简单的,但进一步将这些目标进行分类仍旧很困难。即使是基于机器学习的分割技术也可能难以应对这种情况,因为该技术只考虑像素外观,而无法同时考虑像素聚类(目标)的派生属性。

ZEN Intellesis Object Classification现在提供了一种将已分割目标分类为子类的简单方式。可训练目标分类模型,以自动执行分类。

  • 该模型不是分析单个像素,而是使用针对每个目标测量的50多个属性来区分它们。这些派生测量结果包括几何和基于强度的特征。
  • 由于ZEN Intellesis Object Classification处理的是表格数据而不是图像数据,因此分类过程比经过专门训练的深度神经网络进行的分割过程要快得多。
  • 另外,分类过程与先前的分割无关,无论该分割是通过常规阈值法还是使用机器学习完成。

了解更多有关ZEN Intellesis的信息

对在聚碳酸酯过滤器上,用蔡司Sigma成像的标准纳米和微塑料颗粒(聚苯乙烯(PS,浅蓝色)、聚乙烯(PE,绿色)、聚酰胺-尼龙6(PA,深蓝色)和聚氯乙烯(PVC,红色))执行目标分类。这项关联研究结合了电子显微镜的高分辨率和拉曼显微镜的分析能力。分类模型能够根据其特性区分不同的颗粒类型。

互联实验室的基础架构解决方案

ZEN Connect:将高质量数据放回背景环境中

此款软件可将同一样品的不同显微图像和数据在同一位置进行整合并实现可视化。ZEN Connect工作流基于样品中心化分析,实现从快速概览图到多模态的高级成像, 让您可以查看并轻松定位不同分辨率图像之间的关联性。您还可在客户端服务器数据库——ZEN Data Storage中存储、导出并重新利用不同数据集之间的相互依赖关系。在对齐图像内或跨视野对齐图像的工作区中,进行可导出的直线、角度和面积测量。ZEN Connect还在相互关联的图像和数据集之间实现了整合报告功能。

了解更多有关ZEN Connect的信息

ZEN Connect用户界面:可轻松定位不同尺度的图像。
ZEN Connect用户界面:可轻松定位不同尺度的图像。

关联显微技术

关联显微技术是一项强大的技术,可结合不同显微技术的互补属性,获取零件或材料样品中有价值的信息。ZEN core是蔡司关联显微技术接口,专门用于在所有配备电动载物台的蔡司光学和电子显微镜上进行材料分析。

  • 在光学显微镜和电子显微镜之间更快速地转移样品。
  • 自动定位感兴趣区域。
  • 提高效率和性能。
  • 尽可能多地收集相关信息。
  • 帮您做出明智的材料决策。

获悉更多有关材料分析关联显微技术的信息


ZEN Data Storage:在互联实验室中实现数据的集中管理

随着数字化技术在显微研究领域的深入发展,您将面临越来越多的图像和数据管理任务,在多用户实验室中更是如此。ZEN Data Storage使您能够将图像和数据采集工作与采集后工作分离开来,从而使实验室中的每个人都能以多种方式更高效地工作:

  • 轻松分享仪器的预设置、工作流、数据及报告。
  • 可从不同系统和不同地区访问所有数据。
  • 您的分析结果将具有质量保证和可重现性。
  • 在执行多模态工作流的同时,从样品中获得尽可能多的信息。
  • 可协助IT部门做好安全保障和备份工作。
  • ZEN Data Explorer与ZEN Data Storage相结合,可移动端访问您的数据。您可在路上使用平板电脑或手机检查结果。
ZEN Data Storage:在互联实验室中实现数据的集中管理

GxP模块:安全且符合标准的显微镜流程

GxP模块通过无缝集成的显微镜硬件和软件实现可追踪的工作流程,以满足行业监管的要求。ZEN core中任一现有的工作流皆可与GxP模块兼容。

  • 用户管理
  • 审计跟踪
  • 发布工作流程
  • 电子签名,包括会签功能
  • 程序标准数据的校验和保护
  • 灾难恢复
了解更多有关GxP模块的信息
GxP模块:电子签名验证
GxP模块:电子签名验证

模块包

模块包 特点和应用 下载/了解更多

ZEN core

  • 全面控制蔡司电动显微镜

ZEN core
ZEN core 3.5版本说明

了解更多有关CZI格式文件的信息并获取免费许可证

ZEN starter

  • 免费基础版本(无需许可证)
  • 使用适用于您应用程序的特定模块扩展此版本

测试ZEN套装的关键功能

ZEN analyzer

  • ZEN core桌面版
  • 数据处理、分析和报告
  • 多模态工作流程和数据库连接功能

了解更多关于60天免费试用ZEN analyzer的信息

下载

ZEISS ZEN core

Software Suite for Connected Microscopy in Material Laboratories

页: 40
文件大小: 11900 kB

一步到位,如此轻松

用于实验室日常工作的蔡司显微镜软件

页: 4
文件大小: 611 kB

Application Note: ZEISS ZEN core

Fast Routine Investigation of Additive-manufactured Al-Si Samples

页: 5
文件大小: 3302 kB

Application Note: ZEN core

Quality Inspection of Weld Connections

页: 8
文件大小: 1531 kB

Detection, Quantification and Advanced Characterization of Non-metallic Inclusions in Steels

Detection, Quantification and Advanced Characterization of Non-metallic Inclusions in Steels. Description of NMI module in ZEN Core software.

页: 10
文件大小: 1138 kB

In Situ Microscopy on the Melting and Cooling Behavior of an Al-Si 12 Alloy Using ZEISS ZEN core

页: 6
文件大小: 2153 kB

Microscopy in Metal Failure Investigations

Determine the root cause of metal failure and learn about microscopy tool set for any metal failure investigation

页: 8
文件大小: 4315 kB

快速指南 ZEN core

页: 23
文件大小: 3659 kB

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