蔡司 Atlas 5

挑战多尺度分析

Atlas 5不仅是一款软件，更是一种先进的技术理念——它将原有的、孤立的表征技术整合成一套以样品为中心的，多手段、多尺度、多模式的成像解决方案。它为蔡司扫描电子显微镜（SEM）、场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）和聚焦离子束扫描电镜（FIB-SEM）进一步赋能，使其能够高效地完成图像导航并关联来自任一数据源的图像，如光学显微镜和X射线显微镜。它可以充分发挥高通量、自动大面积成像的优势。流畅的工作流程助您全面了解样品信息。模块化结构设计更让您可以根据材料科学或生命科学研究领域的日常需求来定制Atlas 5。

采用蔡司SEM、FE-SEM和FIB-SEM进行大面积成像
更轻松、更快速地获取纳米尺度的电镜图像
关联来自多个数据源的多维度图像
使用定制化的工作流程来获取更丰富的样品信息
在关联工作环境下工作，图形用户界面（GUI）使所有的工作都围绕样品开展
利用Thin & Fast Tomography和True-Z功能能够在z方向上实现快速和精准的3D切片成像

优势

自动成像软件的图形用户界面（GUI）基于工作流程，便捷易用。

更轻松、更快速地获取纳米尺度的电镜图像

可在无人值守的情况下工作数小时甚至几天获取大量2D或3D纳米尺度的电镜（EM）图像。
采集数千个样品的单幅图像，或在同一块样品上使用数千幅相邻区域图像建立超大图像拼接。
Atlas 5提升了自动图像采集的效率，利用高级预设功能和定制方案生成一致且可重复的结果。

关联来自多个数据源的图像

Atlas 5的关联工作环境可以轻松整合来自多个数据源的图像。在样品宏观尺度信息与纳米细节之间架起了一座桥梁。
可以高效地分析和关联来自不同数据源的图像。如同您的数据中心，无论图像是来自于SEM、FIB-SEM、X射线显微镜、光学显微镜还是您的数码相机，Atlas 5都能够轻松应对。
Atlas 5以样品为中心的工作平台让您能够创建无缝、多尺度、多模式的图像。

全固态电池循环性能表征，3D断层图，3D图像&EDS数据，蔡司FIB-SEM，Atlas Analytics。样品由瑞士洛桑联邦理工学院（EPFL)的M.Cantoni提供。

使用定制化的工作流程来获取更丰富的样品信息

Atlas 5图形用户界面能够让您从2D和3D层面全面理解样品。
根据实验的复杂性设计精准定制的流程，无论是简单的一步任务还是复杂实验。
先进的工作流程环境会引导您逐一完成从自动采集设置到后期处理和定制输出直至分析的每个环节。

技术

快速提高工作效率

将16位扫描发生器和双超采样信号采集硬件与图像处理和控制软件完美结合。
SEM采集图像的分辨率高达32 k x 32 k像素，FIB-SEM采集图像的分别率高达40 k x 50 k像素。
驻留时间从100 ns至100 s以上，以100 ns增量调整图像采集时间。
以8位或16位比特率保存图像。

创建大面积拼接图像

按照实际形状定义ROI并减少拼接图像的数量，从而减少采集时间和计算复杂性。
有效降低载物台运动延迟和因重叠导致的图像部分丢失。
通过优化重叠缝隙，降低电子束辐照对于样品的损伤。

较之以往更轻松地获取图像

精准定义感兴趣区域，让预定义成像方案只扫描指定的区域。
可以通过编辑个性化实验方案来实现最佳成像条件，从而获得可重复的成像结果。
在长时间的图像采集过程中，先进的自动聚焦和自动消像散功能始终让图像保持清晰锐利。
您可以根据需求随时随地对样品进行成像：Atlas 5支持在多台仪器上进行多任务采集。
Atlas 5基于样品的关联界面可关联图像，整合来自多台仪器设备的2D图像和3D数据。
导入和关联来自光学显微镜、X射线显微镜、电镜和FIB-SEM的数据，并生成一致且完整的样品图像。

Correlate with X-ray Microscopy to Target Sub-Surface Sites in Your FIB-SEM

与X射线显微镜关联，为FIB-SEM定位样品的亚表面感兴趣区域

将蔡司X射线显微镜扫描的三维结果与FIB-SEM中成像的二维表面特征相关联。
即使是在表面无法观察到的样品内部，我们也可以使用X射线采集的3D信息来为FIB精准定位。
然后，蔡司FIB-SEM即可轻松导航至感兴趣区域。

模块

拥有多种配置的蔡司Atlas 5

了解蔡司Atlas 5的模块及其功能和配置。根据需要使用Atlas 5扩展蔡司SEM和FIB-SEM的性能。从其他模块的高级功能中获益并了解它们的组合应用。Atlas 5模块需要Atlas 5软件。可选的分析模块则需要Oxford Instruments的硬件和软件包。FIB-SEM上的Analytics模块需要Atlas 5 3D Tomography。