蔡司Axio Imager 2 Pol

科研级偏光显微镜

程序简便,操作可靠

您是否正在寻找一款能够可靠地进行检测分析、获得高质量检测结果且简便易用的显微镜?智能Axio Imager偏光显微镜堪称是您的理想选择。

该系列显微镜有编码型、部分电动型或全电动型可供选择,满足您的个性化需求。

优势

薄层太阳能电池表面,Axio Imager,透射光偏光加λ片

自动识别组件,让您事半功倍

借助自动组件识别(ACR)功能,使您能够始终方便地使用显微镜设置。所有电动主机架能够自动识别物镜。此外,ACR还能在全电动主机架中识别反射光模块。Axio Imager能自动对组件的变换进行记录。

无振动设计确保长时间成像的可靠性

借助Axio Imager出色的稳定性得以实现可随时间变化的测量和高放大倍率观察,物镜转盘、z轴升降台和载物台被设计为一个紧凑式无振动单元,独立于主机架的其余部分。这种“稳定单元”结构设计为获得高质量的检测结果创造了理想的测量条件。

功能丰富,操作舒适

  • 简化复杂的程序。通过主机架或外置工作站上的触摸屏来控制所有电动化组件。
  • 保存个性化设置,一键即可轻松还原设置。聚焦操作方便直观 – 符合人体工程学设计的触控式按钮。
  • 或者,通过任意摆放的控制面板(可完全与主机架分离)来操作偏光显微镜系统。观察方式和光路管理器能够自动选择理想设置,以生成可重复且可靠的观测结果

方法

锥镜检查:使用偏光显微镜可以实现快速可靠的晶体结构分析

使用偏光显微镜能够同时采集无畸变的和锥光的图像信息。借助特别设计的Pol以及额外的中间像平面,可以同时看到物体、十字线和光圈。通过调节型可变光阑能够将锥光观测范围缩小至10μm 的晶体粒度。预先居中的Bertrand光学可以轻松打开和关闭。这一特性让您即使在捕获图像或使用视频设备时,也可以在各种之间快速切换。

一致的测量性能

  • 借助可360°刻度和0.1°游标的旋转、载物台可以轻松实现测量(例如:用于测量矿物的解理角)。
  • 光程差测定或应变测量

具有固定光程差的补偿器

  • 全波片λ
  • 四分之一波片λ/4
  • 全波片λ,可旋转+/- 8°

大量光谱补偿器可选,涵盖从0至30λ的测量范围。

具有可变光程差的补偿器

  • 光楔补偿器0-4λ
  • 测量补偿器
    • Berek倾斜补偿器0-5λ
    • Berek倾斜补偿器0-30λ

Axio Imager可应用于更多方法,例如:

  • 热显微分析
  • 使用蔡司ZEN Core软件进行数字分析(例如,使用晶粒度分析或颗粒度分析)

应用

Coolidge陨石中的棒橄榄球粒

样本:Jutta Zipfel博士,德国法兰克福森肯伯格研究博物馆陨石研究部

在透射光-明场下Coolidge陨石中的棒橄榄球粒
透射光-明场,物镜:EC Plan-NEOFLUAR 10x/0.30 Pol
在透射光-偏光下的Coolidge陨石中的棒橄榄球粒
透射光-偏光,物镜:EC Plan-NEOFLUAR 10x/0.30 Pol
在透射光-带λ波片的偏光的Coolidge陨石中的棒橄榄球粒
透射光-带λ波片的偏光,物镜:EC Plan-NEOFLUAR 10x/0.30 Pol
在反射光-明场下的Coolidge陨石中的棒橄榄球粒
反射光-明场,物镜:EC Epiplan-NEOFLUAR 10x/0.25 Pol
在反射光-暗场下的Coolidge陨石中的棒橄榄球粒
反射光-暗场,物镜:EC Epiplan-NEOFLUAR 10x/0.25 Pol
在反射光-偏振光下的Coolidge陨石中的棒橄榄球粒
反射光-偏振光,物镜:EC Epiplan-NEOFLUAR 10x/0.25 Pol

下载

ZEISS Axio Imager 2

Your Open Microscope System for Automated Material Analysis

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