用于偏光显微观察的 Axio Imager

用于偏光显微观察的 Axio Imager

用于科研的显微镜

用于偏光显微观察的 Axio Imager

  • 介绍

    程序简便、操作可靠

    您是否正在寻找一款能够完成复杂任务、生成可靠检测结果且易于操作的显微镜?那么用于偏光显微观察的智能型 Axio Imager 将是您的满意之选。

    不同种主机架可供选择

    编码型、部分电动型或全电动型主机组合搭配,满足您的个性化需求。

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  • 特点

    自动组件识别技术值得信赖

    自动组件识别(Automatic Component Recognition ACR)技术,使您方便的使用显微镜设置。所有电动主机架能够自动识别物镜。此外,ACR 技术还能在全电动 Z 系列主机中识别反射光模块。系统能自动对组件的变换进行登记。

    无振动设计确保可靠的长时间成像

    借助 Axio Imager 出色的稳定性得以实现可随时间变化的测量和高放大倍率观察。物镜转盘、z 轴升降台和载物台被设计为一个紧凑式无振动单元,独立于主机架的其余部分。这种所谓的 "stable cell" 结构设计能够创建理想的测量条件,以获得超高质量的观测结果。

    扩展功能令操作更舒适

    • 简化复杂程序。通过主机架或外置工作站上的触摸屏来控制全部电动化组件。
    • 保存个性化设置并实现一键还原。聚焦操作方便直观 – 符合人体工程学设计的触控式按钮。
    • 或者通过任意摆放的控制面板(可完全与主机架分离)来操作偏光显微系统。观察方式和光路管理器能够自动选择合适的设置,以生成可重现且可靠的观测结果。

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  • 方法

    锥光观察技术:使用偏光显微镜可以实现快速可靠的晶体结构分析

    偏光显微镜能够同时采集无畸变的和锥光的图像信息。采用特殊设计的偏光镜筒通过辅助中间像平面可以使物体、十字准线和可变光阑同时可见。通过调节型可变光阑能够将锥光观测范围缩小至 10μm 的晶体粒度。已对中的 Bertrand 光路方便开关。这一特性让您在不同技术之间进行快速切换 – 甚至在采集图像或使用视频设备时。

    始终如一的测量性能

    • 借助可 360° 刻度和 0.1° 的游标尺的旋转、球轴安装式载物台可以轻松实现测量,(例如:用于测量矿物的解理角)
    • 光程差测定或应变测量

    大量光谱补偿器可选,涵盖从 0 至 30 λ 的测量范围。

    固定光程差的补偿器

    • 全波片 λ
    • 四分之一波片 λ / 4
    • 全波片 λ,可旋转角度 +/- 8°

    具有可变光程差的补偿器

    • 光楔补偿器 0-4 λ
    • 测量补偿器
      - Berek 倾斜补偿器 0-5 λ
      - Berek 倾斜补偿器 0-30 λ

    Axio Imager 还可提供更多方法,例如:

    • 热显微技术
    • 使用蔡司 AxioVision 软件进行数字分析(例如:晶粒度分析或颗粒度分析)


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