纳米级和关联颗粒度分析

纳米级和关联颗粒度分析

量身定制的颗粒度分析解决方案

按需配置系统

  • 介绍

    快速的纳米级、化学成份和关联颗粒度分析

    对零配件和生产过程进行清洁度检测

    光学显微镜图像

    对零配件和生产过程进行清洁度检测时,需要确保机械组件在无摩擦状态下工作。必须避免因裂纹引起的泄漏,减少喷嘴和过滤器堵塞以及防止泵和阀门发生故障。

    降低维护成本和缩短机器设备停机时间。

    全自动纳米级颗粒度分析软件 —— 蔡司 SmartPI

    电子显微镜图像

    全自动纳米级颗粒度分析软件 —— 蔡司 SmartPI
    利用电子显微镜分析滤膜上多达 200,000 个颗粒,并可选择地了解材料的化学组份信息 – SmartPI 让这一切的全自动化运行得以实现。

    蔡司关联颗粒度分析

    光学显微镜和电子显微镜的叠加图像(包含 EDX 分析)

    蔡司关联颗粒度分析能够在光学和电子显微镜下快速测量与分析多达 200 个关键颗粒并表征它们 — 快速且高效。这套用于颗粒度 EDS 分析的 Correlative Particle Analyzer 系统符合 ISO 16232 和 VDA19 标准。

     

     

  • SmartPI
    SmartPI:自动颗粒度分析

    SmartPI:自动颗粒度分析

    SmartPI 是自动颗粒度分析的理想工具,适用于纳米级颗粒,其中包括化学组份的 EDS 分析。即便颗粒位于边界处,也同样能被正确地计数。您可以在同一图形用户界面下操作 EDS 和 SEM。使用各种评估方法,如离线分析和在测量或统计数据中排除颗粒,从而正确设定分析等级并创建一份专业、全面的报告。升级您的系统使其具备关联颗粒度分析(CAPA)性能。

    用于纳米级颗粒度自动分析的 SmartPI

    用于纳米级颗粒度自动分析的 SmartPI 包括:

    • 一台电子显微镜,如 EVO、SIGMA、MERLIN、ParticleSCAN 和 JetSCAN
    • SmartPI 软件
  • CAPA
    Correlative Particle Analyzer:快速颗粒度分析

    Correlative Particle Analyzer:快速颗粒度分析

    • 选择高分辨率的蔡司显微镜系统执行颗粒度化学分析
    • 以 10 倍的速度获得分析结果
    • 首先,根据颗粒大小对反射(如金属颗粒)和非反射颗粒进行分类,并在光学显微镜下辨识纤维
    • 然后,颗粒被转移至电子显微镜下执行全自动 EDS 分析
    • 最后,在单份报告中将光学显微镜和电子显微镜的分析结果相结合
    • 符合 ISO 16232 和 VDA19 颗粒度分析标准

    用于颗粒度分析的 Correlative Particle Analyzer

    用于颗粒度分析的 Correlative Particle Analyzer 包括:

    • EVO MA 10 电子显微镜
    • Axio Zoom.V16 全自动变倍显微镜
    • 关联样品夹
    • AxioVision Correlative Particle Analyzer 软件

  • 视频

    观看产品宣传片

  • 下载

    Particle Analyzer

    Analyze Tiny Particles: Accurately and Reproducibly

    页: 19
    文件大小: 6.454 kB

    Correlative Particle Analysis

    Quickly Characterize and Classify Particles Supporting ISO 16232 by Light and Electron Microscopy

    页: 17
    文件大小: 3.060 kB

    光学和电子显微镜技术滤膜指南

    下载(4.89 MB)