结合有三维成像与分析性能的 FIB-SEM 电子显微镜

FIB-SEM

拥有领先离子束性能的系统

FIB-SEM

蔡司聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM)将 GEMINI 电子束(e-Beam)镜筒的三维成像和分析性能与用于纳米级材料加工和样品制备的聚焦离子束结合在一起。

Crossbeam系列

您的蔡司 FIB-SEM 可用于纳米成像与加工。通过 Crossbeam 系统,将 Gemini 电子光学镜筒的成像与分析性能与下一代FIB的能力相结合。高达 100nA 的大束流 FIB 可以实现快速的材料切割。
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