MultiSEM 505/506 全球速度非凡的扫描电子显微镜

蔡司 MultiSEM 研究合作计划

全球速度非凡的扫描电子显微镜

MultiSEM 505/506

  • 介绍
    MultiSEM 截屏显示

    开启电子显微镜速度的革新时代

    借助 MultiSEM 显微镜，您可以充分运用 91 条并行电子束的采集速度。现如今，您能够以纳米分辨率对厘米级样品成像。这款出色的扫描电子显微镜（SEM）专为 7 x 24 小时的连续、可靠运行而设计。只需简单设置高性能数据采集流程，MultiSEM 便能够独立地自动完成高衬度图像采集。

    使用成熟的 ZEN 成像软件控制 MultiSEM：您可以直观灵活地管理这款高性能扫描电子显微镜的所有功能选项。

     

  • 特点

    以极高速度和纳米分辨率采集图像

    • 91 条电子束同时工作，拥有出色的成像速度。
    • 在几分钟内对1 mm²的区域成像，分辨率高达 4 nm。
    • 借助经优化的二次电子探测器，以低信噪比采集高衬度图像。

    大型样品的采集和成像

    • MultiSEM 配备有一个可容纳 10 cm x 10 cm 大小样品的样品夹。
    • 对整个样品成像并发现所有细节，助力于科研。
    • 自动采集方案可实现大面积成像 - 您将获得精细的纳米图像，且不丢失可见信息。

    ZEN 成像软件

    • 使用成熟的ZEN软件简便直观地操控 MultiSEM，该软件被应用于所有蔡司成像系统
    • 智能化自动调节程序能够帮助您以高分辨率和高衬度捕获图像
    • 根据样品的实际情况，快速轻松地创建复杂的自动采集流程
    • MultiSEM的ZEN 软件可高速进行连续并行成像
    • 开放的API软件接口可提供灵活快速的应用开发
  • 技术
    MultiSEM 同时运用了多条电子束

    MultiSEM 同时运用了多条电子束（绿色：照明通路）和多个探测器。微调探测通路能够收集大量的二次电子（SE）用于成像。与分光镜组合使用，可让二次电子信号到达（红色：探测通路）多探测器阵列。每条电子束在样品的一个位置执行同步扫描程序，以此获得单个拼片图像。电子束呈六边形排列。通过合并所有图像拼片生成整幅图像。


    并行计算机设置程序用于快速记录数据，确保整体高成像速度。图像采集和工作流程控制在 MultiSEM 显微镜中完全独立。

     

  • 整合工作流程

    对大体积样品连续切片断层扫描的数据获取

    • 使用ATUMtome 自动切割树脂包埋生物组织。 一天内搜集多达1000个连续切片。
    硅晶片上的固定胶带
    • 将切片用胶带固定在硅晶片上并用蔡司的光学显微镜成像。使用蔡司的 ZEN 成像软件以及 Shuttle & Find 功能组件对整体成像。再将硅晶片移至 MultiSEM 电子显微镜下，对样品进行整体预览并利用 ZEN 软件用户界面规划整个实验。
    MultiSEM 截屏显示
    • 用图形化的控制中心设置整个实验。高效的自动切片检测可以识别和标注感兴趣区域，节省大量时间。
  • 研究合作计划

    蔡司 MultiSEM 研究合作计划专为早期使用者设立。作为该计划的一部分，您将与蔡司密切开展合作以及使用这项新技术，并从中获益。

     

  • 下载
    image

    蔡司MultiSEM

    世界上速度超快的扫描电子显微镜

    页: 14
    文件大小: 1952 kB

    image

    ZEISS MultiSEM 505/506 Series

    Instruction Manual (English)

    页: 170
    文件大小: 8997 kB

    External Publications

    Brain mapping in high resolution - nature.com (Neurobiology)

    Connectomics (Cell Press Nucleus)

    High throughput data acquisition with a multi-beam SEM

    Mission (im)possible – mapping the brain becomes a reality

    High-resolution, high-throughput imaging with MultiSEM 505

    Multiple-Beam Scanning Electron Microscopy (Microscopy Today)

    Further advancing the throughput of a multi-beam (Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography)

  • 50 nm 厚度的小鼠大脑切片图像

    小鼠大脑

  • 电池隔膜

    电池隔膜

  • 经过离子束对表面大范围抛光的高成熟度页岩样品

    高成熟度页岩

  • 股骨颈（PMMA包埋和抛光的块面）

    股骨颈（PMMA包埋和抛光的块面）

  • 小鼠大脑，50nm厚度切片

    小鼠大脑

  • 图形处理器

    图形处理器