GeminiSEM 系列产品场发射扫描电子显微镜

GeminiSEM 系列产品

高对比度、低电压成像的场发射扫描电子显微镜

为对任意样品进行高水准的成像和分析而生

蔡司GeminiSEM 系列产品具有出色的探测效率,能够轻松地实现亚纳米分辨成像。无论是在高真空还是在可变压力模式下,更高的表面细节信息灵敏度让您在对任意样品进行成像和分析时都具备更佳的灵活性,为您在材料科学研究、生命科学研究、工业实验室或是显微成像平台中获取各种类型样品在微观世界中清晰、真实的图像,提供灵活、可靠的场发射扫描电子显微镜技术和方案。

运用GeminiSEM系列产品,您可轻松获取真实世界中任意样品出色的图像和可靠的分析结果

  • GeminiSEM 500 具有出色的分辨率,在较低的加速电压下仍可呈现给您更强的信号和更丰富的细节信息,其创新设计的NanoVP可变压力模式,甚至让您在使用时拥有在高真空模式下工作的感觉;
  • GeminiSEM 450 具有出色的易用性设计、更快的响应和更高的表面灵敏度,使其能快速、灵活、可靠地对样品进行表面成像和分析,充当您的得力助手;
  • GeminiSEM 300 具有出色的分辨率、更高的衬度和更大且无畸变的成像视野,可方便地选取适合样品的真空度等环境参数,使FESEM初学者也能快速掌握;

产品

轻松地对任意样品进行亚纳米分辨成像的场发射扫描电子显微镜,更灵敏、更灵活、更简单、更智能。

GeminiSEM -清晰的图像

更强的信号,更丰富的细节

GeminiSEM 500 为您呈现任意样品表面更强的信号和更丰富的细节信息,尤其在低的加速电压下,在避免样品损伤的同时快速地获取更高清晰度的图像。

  • 经优化和增强的Inlens探测器可高效地采集信号,助您快速地获取清晰的图像,并使样品损伤降至更低;
  • 在低电压下拥有更高的信噪比和更高的衬度,二次电子图像分辨率1 kV达0.9nm,500 V达1.0 nm,无需样品台减速即可进行高质量的低电压成像,为您呈现任意样品在纳米尺度上更丰富的细节信息;
  • 应用样品台减速技术-(Tandem decel),可在1 kV下获得高达0.8nm二次电子图像分辨率;
  • 创新设计的可变压力模式-NanoVP技术,让您拥有身处在高真空模式下工作的感觉。
GeminiSEM – EBSD晶粒

更高的速度与灵敏度,更好的成像和分析

GeminiSEM 450更快的响应和更高的表面灵敏度使其能快速、灵活、可靠地对样品进行表面成像和分析,简便、快速地进行EDS能谱和EBSD等分析,同时保持出色的空间分辨率,充当您的得力助手。

  • 在EDS能谱和EBSD分析模式下仍保持高分辨率的成像,在低电压条件下工作时更为优异;
  • 可快速地对样品进行大范围及高质量成像;
  • 经优化的电子光学镜筒,减少了工作过程中进行重新校准的复杂流程,节省成像时间,提高工作效率;
  • 无论是不导电样品、磁性样品或是其他类型的样品,无论是高真空或是可变压力模式,均可实现快速和高质量的成像和分析;
GeminiSEM –磁性材料

更灵活的成像方式

无论是资深用户还是初学者,GeminiSEM 300将让您体验到在更高的分辨率和更佳的衬度下进行极大视野范围成像的乐趣,并且在高真空或是可变压力模式下都可以实现。

  • 得益于高效的信号采集系统和优异的分辨率性能,可实现快速、高质量、无畸变的大范围成像;
  • 创新设计的高分辨率电子枪模式,为对磁性样品、不导电样品以及电子束敏感样品的低电压成像量身订制解决方案;
  • 蔡司独树一帜的镜筒内能量选择背散射探测器,在低电压下也可轻松地获得高质量的样品材料衬度图像;
  • NanoVP技术让您可以使用镜筒内Inlens二次电子探测器对要求苛刻的不导电样品进行高灵敏度、高分辨成像。
基本规格 蔡司 GeminiSEM 500  蔡司 GeminiSEM 450 蔡司 GeminiSEM 300
  热场发射电子枪,稳定性优于0.2 %/h
加速电压
0.02 - 30 kV
探针电流
3 pA - 20 nA 3 pA - 40 nA 3 pA - 20 nA
(100 nA配置可选)
(100 nA或300 nA配置可选)
(100 nA配置可选)
存储分辨率
最高达32k × 24k 像素
放大倍率
50 – 2,000,000 12 – 2,000,000 12 – 2,000,000
标配探测器
镜筒内Inlens二次电子探测器
样品室内的Everhart Thornley二次电子探测器

可选配的

项目

镜筒内能量选择背散射探测器
- 角度选择背散射探测器
角度选择背散射探测器
环形STEM探测器(aSTEM 4)
EDS能谱仪
EBSD探测器(背散射电子衍射)
NanoVP可变压力模式
高效VPSE探测器(包含在NanoVP可变压力选件中)
局部电荷中和器
可订制特殊功能样品台
环形背散射电子探测器
阴极射线荧光探测器

洞察产品背后的科技

Gemini电子光学系统

  • Geimini技术概览
    Gemini电子光学镜筒包含电子束推进器、Inlens探测器和Gemini物镜

    Gemini电子光学镜筒包含电子束推进器、Inlens探测器和Gemini物镜

    Gemini 1 –成熟的Gemini技术概览

    场发射扫描电子显微镜具有更高的分辨率,离不开其性能优异的电子光学镜筒。蔡司Gemini技术专为对任意样品进行高分辨成像设计,尤其在低电压下保持完整和高效的探测系统、出色的分辨率和易用性等特点。

    蔡司Gemini电子光学镜筒具有以下三个主要特点

    • 蔡司Gemini物镜的设计结合了静电场和磁场,在提高其电子光学性能的同时将它们对样品的影响降至更低。无漏磁物镜设计,可以对如磁性材料等极具挑战的样品同样地进行高品质成像;
    • 蔡司Gemini电子束推进器技术,让电子束经过加速后以高电压通过镜筒,最终再减速至设定电压后进入样品仓,很大程度地减小电子束的像差,保证了在非常低的加速电压下仍可获得小束斑和高信噪比;
    • 蔡司Gemini 镜筒的设计理念将Inlens二次电子(SE)和背散射电子(BSE)探测器均放置在镜筒内正光轴上,使两者均具有更高的信号采集效率且可以同时成像,有效的缩短了获取图像的时间,更好地提高工作效率。

    蔡司Gemini技术优势能为您提供以下便利:

    • 经校准后的镜筒具有长期的稳定性,您在日常使用时只需要简易地设定基本的参数,如加速电压、探针电流等;
    • 无漏磁的物镜设计,可对包括磁性样品在内的各类型样品进行无畸变、高分辨率的成像;
    • Inlens二次电子探测器具有高效的SE 1信号采集效率,给您呈现来自样品极表面的真实形貌图像;
    • 镜筒内能量过滤背散射探测器以其创新的设计理念,使您在低电压下可获得高分辨率、高衬度、以及更真实的样品材料衬度图像。
  • Gemini 1 类型镜筒(Gemini 300 / 500)
    革新设计的Gemini电子光学镜筒

    GeminiSEM 300 / 500 结构示意图。
    革新电子光学设计的高分辨电子枪模式、样品台减速技术和Nano-twin lens物镜(红色高亮部分,仅GeminiSEM 500配置)

    Gemini 1类型镜筒 -延续创新和发展

    如今,扫描电子显微镜(SEM)在低电压下的高分辨成像能力,已成为其在各项应用领域中的标准配置。

    低电压下的高分辨率成像能力,在以下应用领域中扮演着尤为重要的角色:

    • 电子束敏感样品
    • 不导电样品
    • 获取样品极表面的真实形貌信息

     

    Gemini的革新电子光学设计,应用高分辨率电子枪模式、Nano-twin lens物镜(GeminiSEM 500)、以及Tandem decel样品台减速技术(选配),有效提高了在低电压时的信号采集效率和图像衬度。

    高分辨率电子枪模式:

    • 缩小30%的出射电子束能量展宽,有效地降低像差;
    • 获得更小的束斑。

    Nano-twin lens物镜:

    • 优化静电场和磁场的复合功效,在低电压下具有的更高的分辨率;
    • 提高镜筒内Inlens探测器在低电压下的信号采集效率。

    Tandem decel样品台减速技术,进一步提高对适用样品在低电压甚至极低电压下的分辨率:

    • Tandem decel减速技术将镜筒内减速和样品台偏压减速技术相结合,有效地实现低着陆电压;
    • 使用1 kV及以下更低电压时,镜筒内背散射探测器的检测效率获得更好地增强,低电压下的分辨率得到进一步提高。
    • 对适用的样品可以加载高达-5 kV的样品台偏压,在低电压下获得更高质量的图片。
  • Gemini 2 类型镜筒(GeminiSEM 450、 Merlin)
    蔡司 GeminiSEM 450:配置双聚光镜、双镜筒内探测器的Gemini 2电子光学镜筒,同时可搭载NanoVP可变压力模式或者局部电子中和器。

    蔡司 GeminiSEM 450:
    配置双聚光镜、双镜筒内探测器的Gemini 2电子光学镜筒,同时可搭载NanoVP可变压力模式或者局部电子中和器。

    Gemini 2类型镜筒-出色的综合性能,为您所欲为

    要实现对任意样品都能进行高质量的测试和表征,扫描电子显微镜必须在成像和分析方面都具备优异的性能,同时能给用户简单易用的操作体验。如今,Gemini 2镜筒可满足您在这些方面的各种需求:

    • GeminiSEM 450 配置双聚光镜的Gemini 2类型电子光学镜筒;
    • 在确保获得出色的小电子束斑的同时,束流连续可调;
    • 可在低束流的高分辨率成像与高束流的分析模式之间进行无缝切换;
    • 调整工作参数后无需对电子束进行重新校准,为您节约时间,提高仪器效率;
    • 操作灵活易用,高电子束能量密度下的高分辨率成像,低束流分析,高束流分析等各类不同的工作模式,一切由您而定;
    • 物镜无漏磁设计,在大视野范围成像和EBSD分析中不会引起畸变,确保获得样品高质量的图像;
    • 出色、稳定的电子光学镜筒,对各种类型的样品都能简单快速的进行高分辨率成像,即使在使用中样品需要倾斜,甚至是对磁性样品进行成像;
    • P搭载局部电荷中和器或NanoVP可变压力模式,有效地消除样品的表面荷电,让您在出色参数下对样品进行成像和分析。

     

  • 可变压力真空技术
    NanoVP可变压力模式:置于物镜极靴下方的可抽插式压差光阑,在可变压力模式中可同样使用镜筒内Inlens探测器对样品进行高分辨率成像,如同在高真空模式成像的感觉。

    NanoVP可变压力模式:置于物镜极靴下方的可抽插式压差光阑,在可变压力模式中可同样使用镜筒内Inlens探测器对样品进行高分辨率成像,如同在高真空模式成像的感觉。

    NanoVP可变压力模式-更丰富的细节,更灵活的适用性

    NanoVP可变压力模式技术,为您提供对不导电样品成像优秀的解决方案,更大程度地发挥镜筒内Inlens探测器高性能和高分辨率的优异性能:

    • 消除不导电样品的表面荷电现象;
    • NanoVP可变压力技术有效地减小电子束展宽,确保在可变压力模式中发挥镜筒内Inlens探测器的优异性能,获得高分辨率的图像,可变压力范围可高达150 Pa;
    • 因此,即使是在可变压力模式下,镜筒内Inlens二次电子探测器和EsB背散射探测器仍可同时成像,助您获得样品极表面的高分辨形貌图像和更高衬度的背散射图像;
    • 样品室内同时搭载VPSE探测器,可对要求更为苛刻的样品在高达500 Pa的压力下进行高质量成像。

     

应用

  • 材料科学
    复合型功能材料表面--聚苯乙烯球上的金纳米颗粒,使用GeminiSEM 500在3kV下成像。

    复合型功能材料表面--聚苯乙烯球上的金纳米颗粒,使用GeminiSEM 500在3kV下成像。

    复合型功能材料表面--聚苯乙烯球上的金纳米颗粒,使用GeminiSEM 500在3kV下成像。
    复合型功能材料表面--聚苯乙烯球上的金纳米颗粒,使用GeminiSEM 500在3kV下成像。

    左图:Inlens二次电子图像,表面形貌;
    右图:EsB图像,材料衬度。
    样品:由德国Erlangen-Nuremberg大学的Dr. N. Vogel提供

    蚀刻硅表面的微观形貌,晶体台阶清晰可见(无样品台偏压),使用GeminiSEM 500在50 V下进行成像。

    蚀刻硅表面的微观形貌,晶体台阶清晰可见(无样品台偏压),使用GeminiSEM 500在50 V下进行成像。
    样品:由法国Aix Marseille大学Dr. A.Charai提供

    蚀刻硅表面的微观形貌,晶体台阶清晰可见(无样品台偏压),使用GeminiSEM 500在50 V下进行成像。
    蚀刻硅表面的微观形貌,晶体台阶清晰可见(无样品台偏压),使用GeminiSEM 500在50 V下进行成像。

    样品:由法国Aix Marseille大学Dr. A.Charai提供

    硅基分子筛中的钴纳米颗粒催化剂

    硅基分子筛中的钴纳米颗粒催化剂的STEM图像,叠加能谱元素面分布图,使用GeminiSEM 450 aSTEM探测器和 Oxford Instruments Ultim Max 170 EDS 能谱仪在25 kV下成像。

    硅基分子筛中的钴纳米颗粒催化剂
    硅基分子筛中的钴纳米颗粒催化剂,叠加能谱元素面分布图

    使用GeminiSEM 450 aSTEM探测器和 Oxford Ultimax 170 EDS 能谱仪在25 kV下成像。图中可清晰的观察到尺寸约为10 nm、镶嵌在分子筛中的钴纳米颗粒,并通过能谱元素面分布图进行表征。

    表面形貌具有很大起伏的泡沫镍材料,广泛应用于电池和超级电容器的阴极材料中。

    表面形貌具有很大起伏的泡沫镍材料,广泛应用于电池和超级电容器的阴极材料中。

    表面形貌具有很大起伏的泡沫镍材料,广泛应用于电池和超级电容器的阴极材料中。
    表面形貌具有很大起伏的泡沫镍材料,广泛应用于电池和超级电容器的阴极材料中。

    使用GeminiSEM 450 Inlens二次电子探测器在8 kV下成像,获得极佳的景深和图像质量。

    钕铁硼磁铁断面结构

    钕铁硼磁铁断面结构

    钕铁硼磁铁断面结构
    钕铁硼磁铁断面结构

    使用GeminiSEM 450 和Oxford Ultimax 170 EDS能谱仪在15 kV下,使用二次电子像与彩色元素面分布图进行叠加得到(粉红色:钕元素;浅蓝色:镨元素;黄色:铁元素;深蓝色:氧元素;灰色:二次电子图像)

    钕铁硼磁铁(经消磁处理)的断面形貌

    钕铁硼磁铁(经消磁处理)的断面形貌

    钕铁硼磁铁(经消磁处理)的断面形貌
    钕铁硼磁铁(经消磁处理)的断面形貌

    GeminiSEM 450在3 kV下使用环形背散射探测器的最内侧环形通道成像(无样品台偏压)。具备6通道的环形背散射探测器可以分别采集不同角度的背散射电子信号,从而获得具有更高材料衬度的背散射图像。

    锂离子电池阴极材料二次电子像,使用500 V成像,可以观察到材料中对电子束敏感的粘合剂材料没有被损伤,仍保持细丝状的形貌。

    锂离子电池阴极材料二次电子像,使用500 V成像,可以观察到材料中对电子束敏感的粘合剂材料没有被损伤,仍保持细丝状的形貌。

    锂离子电池阴极材料二次电子像,使用500 V成像,可以观察到材料中对电子束敏感的粘合剂材料没有被损伤,仍保持细丝状的形貌。
    锂离子电池阴极材料二次电子像,使用500 V成像,可以观察到材料中对电子束敏感的粘合剂材料没有被损伤,仍保持细丝状的形貌。

    样品:由德国Materials Research Institute Aalen的Dr. T. Bernthaler提供。

    锂离子电池阴极材料的能谱元素面分布图像,区分显示不同氧化物的主要组成。

    锂离子电池阴极材料的能谱元素面分布图像,区分显示不同氧化物的主要组成。

    锂离子电池阴极材料的能谱元素面分布图像,区分显示不同氧化物的主要组成。
    锂离子电池阴极材料的能谱元素面分布图像,区分显示不同氧化物的主要组成。

    样品:由德国Materials Research Institute Aalen的Dr. T. Bernthaler提供。

  • 生命科学
    蛾翅的微观结构,高真空模式中使用镜筒内Inlens二次电子探测器在50 V成像。

    蛾翅的微观结构,高真空模式中使用镜筒内Inlens二次电子探测器在50 V成像。

    蛾翅的微观结构,高真空模式中使用镜筒内Inlens二次电子探测器在50 V成像。
    蛾翅的微观结构,高真空模式中使用镜筒内Inlens二次电子探测器在50 V成像。

    低至50 V的极低电压避免了荷电现象,同时获得样品丰富的表面细节和高质量图像。

    小鼠大脑切片的大视野高分辨率图像,使用GeminiSEM 300结合3View®技术成像。

    小鼠大脑切片的大视野高分辨率图像,使用GeminiSEM 300结合3View®技术成像。

    小鼠大脑切片的大视野高分辨率图像,使用GeminiSEM 300结合3View®技术成像。
    小鼠大脑切片的大视野高分辨率图像

    使用GeminiSEM 300结合3View®技术成像。

    真核细胞纤毛,使用GeminiSEM 450 BSD背散射探测器成像。

    真核细胞纤毛,使用GeminiSEM 450 BSD背散射探测器成像。

    真核细胞纤毛,使用GeminiSEM 450 BSD背散射探测器成像。
    真核细胞纤毛,使用GeminiSEM 450 BSD背散射探测器成像。

    Centrins中心蛋白是真核细胞纤毛中的一类特殊蛋白质。新一代BSD背散射探测器可清晰地表征中心蛋白富集区域-纤毛尖端的亮点与其他区域的微小的质量衬度(材料衬度)差别。
    样品:由德国University of Osnabrück大学的Dr. P. Purschke提供。

    超薄切片获取的小鼠大脑组织,常规条件下图像衬度欠佳。

    超薄切片获取的小鼠大脑组织,常规条件下图像衬度欠佳。

    超薄切片获取的小鼠大脑组织,常规条件下图像衬度欠佳。
    超薄切片获取的小鼠大脑组织

    常规条件下图像衬度欠佳

    超薄切片获取的小鼠大脑组织,应用Tandem decel样品台减速技术,获得更高的图像衬度。

    超薄切片获取的小鼠大脑组织,应用Tandem decel样品台减速技术,获得更高的图像衬度。

    超薄切片获取的小鼠大脑组织,应用Tandem decel样品台减速技术,获得更高的图像衬度。
    超薄切片获取的小鼠大脑组织,应用Tandem decel样品台减速技术,获得更高的图像衬度。

    未经染色处理的T4-Phage噬菌体,使用STEM探测器获取高衬度图像。

    未经染色处理的T4-Phage噬菌体,使用STEM探测器获取高衬度图像。

    未经染色处理的T4-Phage噬菌体,使用STEM探测器获取高衬度图像。
    未经染色处理的T4-Phage噬菌体,使用STEM探测器获取高衬度图像。

  • 半导体/电子器件
    数据存储领域中硬盘磁头的微观结构。

    数据存储领域中硬盘磁头的微观结构。
    左图:镜筒内Inlens 二次电子探测器-形貌图像;右图:镜筒内EsB背散射电子探测器-材料衬度图像;利用二者对样品的精细纳米结构进行表征。

    数据存储领域中硬盘磁头的微观结构。
    数据存储领域中硬盘磁头的微观结构。

    左图:镜筒内Inlens 二次电子探测器-形貌图像;右图:镜筒内EsB背散射电子探测器-材料衬度图像;利用二者对样品的精细纳米结构进行表征。

    22 nm技术制作的FinFET晶体管的正面背散射电子图像

    22 nm技术制作的FinFET晶体管的正面背散射电子图像,使用3 kV和镜筒内EsB探测器成像,高纯的背散射电子信号带来图像中极高材料衬度。

    22 nm技术制作的FinFET晶体管的正面背散射电子图像
    22 nm技术制作的FinFET晶体管的正面背散射电子图像

    使用3 kV和镜筒内EsB探测器成像,高纯的背散射电子信号带来图像中极高材料衬度。

  • 工业应用
    硬盘上纳米尺度的磁性纳米颗粒。作为磁性数据存储媒介,该磁性纳米颗粒的尺寸越小,可以获得越大的数据密度和存储容量。

    硬盘上纳米尺度的磁性纳米颗粒。作为磁性数据存储媒介,该磁性纳米颗粒的尺寸越小,可以获得越大的数据密度和存储容量。

    硬盘上纳米尺度的磁性纳米颗粒。作为磁性数据存储媒介,该磁性纳米颗粒的尺寸越小,可以获得越大的数据密度和存储容量。
    硬盘上纳米尺度的磁性纳米颗粒。作为磁性数据存储媒介,该磁性纳米颗粒的尺寸越小,可以获得越大的数据密度和存储容量。

    晶粒表现出不同的灰度是由于通道效应所导致,它能提供纳米晶粒的取向信息。图片为GeminiSEM 450的aBSD探测器在20kV下拍摄。

    表面形貌具有很大起伏的泡沫镍材料,广泛应用于电池和超级电容器的阴极材料中。

    表面形貌具有很大起伏的泡沫镍材料,广泛应用于电池和超级电容器的阴极材料中。

    表面形貌具有很大起伏的泡沫镍材料,广泛应用于电池和超级电容器的阴极材料中。
    表面形貌具有很大起伏的泡沫镍材料,广泛应用于电池和超级电容器的阴极材料中。

    使用GeminiSEM 450 的Inlens二次电子探测器在8 kV下成像,获得极佳的景深和图像质量。

    NanoVP可变压力模式下使用VPSE探测器在150 Pa压力和3 kV下对不导电的高分子纤维成像,有效地消除了样品表面极易荷电的影响,清晰地观察到其微观结构。

    NanoVP可变压力模式下使用VPSE探测器在150 Pa压力和3 kV下对不导电的高分子纤维成像,有效地消除了样品表面极易荷电的影响,清晰地观察到其微观结构。

    NanoVP可变压力模式下使用VPSE探测器在150 Pa压力和3 kV下对不导电的高分子纤维成像,有效地消除了样品表面极易荷电的影响,清晰地观察到其微观结构。
    NanoVP可变压力模式下使用VPSE探测器在150 Pa压力和3 kV下对不导电的高分子纤维成像,有效地消除了样品表面极易荷电的影响,清晰地观察到其微观结构。

    样品:由德国Dresden Leibniz-Institute of Polymer Research的Dr. H. Braun提供。

附件

蔡司Atlas 5-挑战多尺度分析

Atlas 5可以简化您的工作:以样本为中心的关联环境下为您创建多尺度、多模式的综合图片。Atlas 5集强大的硬件和易于操作的软件为一体,大大拓展了蔡司扫描电镜(SEM)的应用范围。

 

阅读了解更多

3D表面建模 – 3DSM

3D表面建模 – 3DSM

扫描电镜只能测量分析样品的2D信息。然而,使用3DSM可将扫描电镜的分析能力扩展至对3D数据的分析。由蔡司设计研发的3DSM是以计算机为基础的应用软件,它基于扫描电镜的AsB探测所的信号对样品表面的三维结构进行重构。

 

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可视化分析软件

可视化及分析软件

蔡司推荐您使用Object Research Systems (ORS) 的 Dragonfly Pro

此解决方案可为X射线,FIB-SEM,SEM以及氦离子显微镜获取的三维数据进行可视化三维重构和分析。

基于Visual SI Advanced系列, Dragonfly Pro 能提供高清解析度可视化技术和优异的图形处理技术。Dragonfly Pro支持通过简单易用的Python脚本进行定制。用户可以完全掌控3D数据后期处理环境和流程

更多信息

小鼠肺部组织切片图像,通过局部电荷中和器消除表面荷电并成像。

小鼠肺部组织切片图像,通过局部电荷中和器消除表面荷电并成像。

使GeminiSEM 300 / 450 能更好地消除样品荷电现象,简单快速地实现生物组织样品的高质量三维成像

GeminiSEM 300 / 450可无缝结合Gatan公司的3View®技术,变身成为快速且高质量获取包埋细胞或组织样品的高分辨率三维数据的一套系统。3View®是扫描电子显微镜样品室内的一台超微切片机,与蔡司GeminiSEM系列产品成像快速、样品灵活、视野大且无畸变的技术特点完美结合,该系统能在一天内对样品进行数千个连续切片和自动高质量成像,有效的节省了时间。因为样品保持固定不动,所获取的图像具有更高的重合度,使得重构得出的三维数据更为高效和真实还原样品的三维结构。

现在,搭载蔡司局部电荷中和器技术的GeminiSEM可以更好地消除以往富有挑战的不导电样品的表面荷电,进一步提高生物组织切片样品,如肝脏、肾脏、肺部等组织切片图像的质量,以更好地帮助科学家们进行病理学等相关领域的生命科学研究。蔡司公司已经把这套目前更快更简便而且具有更高质量的三维成像系统提供给了德国国家显微成像中心,并将与之开展长期合作和取得共赢。

 

更多内容

 

下载

蔡司 GeminiSEM 系列

适用于各种材料的高分辨成像与分析的场发射扫描电镜

页: 34
文件大小: 11.237 kB

ZEISS Integrated Atomic Force Microscope

Your Only True in situ AFM Solution for FE-SEMs and FIB-SEMs

页: 17
文件大小: 6.022 kB

ZEISS Microscopy Solutions for Steel and Other Metals

Multi-modal characterization and advanced analysis options for industry and research

页: 22
文件大小: 12.439 kB

Application Note

Electron Channeling Contrast Imaging Performed by ZEISS GeminiSEM 500

页: 7
文件大小: 3.145 kB

Technical Note: GeminiSEM... The real time 3DSM solution

Extend 3DSM functionality to real time surface reconstruction and metrology in a fast and precise way

页: 6
文件大小: 2.131 kB

Novel Optical Design of Field Emission SEMs

Innovations in Gemini Column, Detection Technology and Variable Pressure Technology

页: 8
文件大小: 1.937 kB

ZEISS Gemini Optics

High Resolution Images On Real World Samples

页: 1
文件大小: 775 kB

Technical Note

High Resolution Imaging of non-conductive Specimen benefits from Local Charge Compensation

页: 6
文件大小: 3.017 kB

Cathodoluminescence of Geological Samples:

Fluorite Veins

页: 5
文件大小: 5.477 kB