Quick Guide
切面成像,是一种快速便捷,以纳米分辨率实现三维重构的成像方式。凭借3View®,您可以使用一个在扫描电镜(SEM)的样品仓里的超薄切片机对树脂包埋的细胞和组织样品进行切削,然后成像,并不断重复。如果您有蔡司的Sigma或GeminSEM场发射扫描电镜(FE-SEM),再配上3View®,那么您一天就可以采集数以千计序列图像。切面成像能以便捷的方式,在短时间里实现图像在三维尺度的校准。
如果想要获得类似透射电子显微镜图像质量的高分辨率三维数据,蔡司配有3View®的场发射扫描电子显微镜是你的选择。蔡司Gemini镜筒技术会带给你优异的图像,它可以在进行大视野成像的同时又保持纳米级别的分辨率。对于数百微米尺度样品的三维重构,切面成像一气呵成,大幅减少因图像区域重叠和拼接花费的时间。
配有3View® 的Sigma和GeminiSEM 场发射扫描电子显微镜可以实现大样品的切面成像,同时又有出色的图像质量。
在Sigma 3View® 中通过可变压力实现电荷中和,减少成像失真。
GeminiSEM 3View®可以带给你优异的低电压成像效果,以及灵活的探测手段。
现在你可以给你的GeminiSEM升级局部电荷补偿器,消除荷电效应的影响。
超高的系统稳定性,即使长时间运行也完全不需要人工干预。
红色的外周神经呈现出复杂的富含节点和弯曲的神经网络。 图片由P. Munro, School of Ophthalmology, University College London, UK 提供
3View® 是放置在扫描电镜样品仓里的超薄切片机. 块状样品则放置在正对电镜镜筒下方的样品台上。在上表面被扫描成像之后,样品会上升很小的一段距离(最小可达15 nm)。此时超薄切片机进刀,削掉样品顶端的薄薄一层,之后退刀,新的表面再次被成像。以这种方式,样品反复不断地被切削,成像,而得到数以千计的切面图片,从而进行完整的三维重构。
树脂包埋的样品,比如单层细胞或者高度血管化的组织,在成像时你经常会遭样品受荷电效应的困扰,从而导致图像失真扭曲,质量下降。虽然使用可变压力的扫描电镜可以改善这些现象,但同时也会损失图像信噪比和分辨率。
现在,你可以在配有3View®的GeminiSEM 上搭载由显微镜和成像研究国家中心(NCMIR)研制的局部电荷补偿器,在保持图像质量的前提下减少样品荷电效应。
电荷补偿器的工作原理:在样品上方放置一根极细的进气针头,在样品仓处于高真空状态时直接将氮气导到样品表面上方。而在样品被切削时针头自动回缩,不干扰图像获取,从而快速得到切面成像的数据。
获取高分辨的三维成像数据就是如此的方便快捷,远超想象。
Quick Guide
页: 7
文件大小: 1393 kB
Fast and Convenient 3D Imaging for Biological Samples in the FE-SEM
页: 19
文件大小: 3105 kB
适用于您高要求亚纳米成像、分析和样品灵活性方面的场发射扫描电镜
页: 47
文件大小: 6030 kB
Serial Block Face Imaging
页: 8
文件大小: 1983 kB