蔡司扫描电子显微镜(SEM)能够提供高分辨率的表面信息及出色的材料对比度。它们被广泛运用于电镜科学及应用领域,如纳米技术、材料分析、半导体失效分析、生命科学和质量控制。
EVO系列将高性能的扫描电镜和直观的、友好的用户界面体验结合在一起, 同时能够吸引经验丰富的用户以及新用户。无论是在生命科学, 材料科学, 或例行的工业质量保证和失效分析领域,凭借广泛的可选配置, EVO 都可以根据您的要求量身定制。
结合了场发射扫描电子显微镜技术和高级分析性能,用于颗粒、表面和纳米结构成像。Sigma的4步半自动工作流程节省了大量的工作时间。
蔡司Volutome覆盖了图像处理、图像分割和可视化过程,是一款包含软硬件的端到端解决方案。传统的SEM载物台可轻松替换超薄切片机,将您的三维FE-SEM转换为标准的多功能FE-SEM,使您的系统能够适应多功能环境。
量身定制的扫描电子显微镜能满足您的各类应用需求。
例如用于颗粒度分析的 ParticleSCAN
用于引擎失效分析的 JetSCAN
体验速度非凡的扫描电子显微镜 - 拥有 61 条并行电子束。