在材料分析领域内架起微米和纳米世界的桥梁

Shuttle & Find

在材料分析领域内架起微米和纳米世界的桥梁

Shuttle & Find

  • 介绍

    在材料分析中结合电子和光学显微镜技术

    蔡司 Shuttle & Find 是针对光学和电子显微镜的关联显微技术,专为材料分析的应用而设计。
    系统化的软、硬件解决方案仅需几分钟就能将样品从一种显微镜转移至另外一个,并实现重定位 — 如不借助Shuttle&Find,这一过程可能需要耗费几个小时甚至数天的时间。

    Shuttle & Find 是一套十分灵活的双向系统,能与任意数量的蔡司显微镜联用。此外,它还优化中间操作步骤,以确保样品从一个显微镜转移至另一显微镜时始终处于理想使用状态。

    对于材料分析更为重要的是,Shuttle & Find 可以通过自动定位同一感兴趣的区域来加快工作流程,缩短工作周期让您在更短的时间内能处理大量的样品。

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  • 特点
    Shuttle & Find
    • 快速重定位感兴趣的区域
      在光学显微镜下拍摄图像并标记感兴趣区域(ROI)。ROI 与样品图像被一同保存。通过自动校准和固定的工作流程,可以在电子显微镜下轻松定位 ROI。
    • 更多信息:
      将光学显微镜的观察方式和光学显微镜获取的样品的大小 、形貌及颜色等信息与电子显微镜的分析结果相结合。了解样品的结构和功能信息。
    • 一站式仪器设备供应商:
      作为全球一家提供光学和电子显微镜的制造商,蔡司是为您连接微米和纳米世界的满意之选。蔡司是光学显微镜、电子显微镜及两者综合系统的一站式供应商。

     

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  • 关联颗粒度分析

    关联显微镜颗粒度分析 - 更丰富的图像信息、更高的图像质量。

    表征对工艺流程起决定性作用的颗粒。关联 Particle Analyzer 将光学显微镜与电子显微镜两者的分析数据相结合。使用光学显微镜检测到颗粒后,您可以借助蔡司关联显微镜颗粒度分析自动完成颗粒的重定位和 EDX 分析。它是完整表征残留颗粒的理想方法。

    关联 Particle Analyzer 会以报告的形式自动记录光学显微镜和电子显微镜两者的分析结果。关联显微镜颗粒度分析仪比单独先使用光学显微镜然后再使用电子显微镜的分析方案速度要快 10 倍多。

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  • 下载
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    ZEISS Shuttle & Find

    Bridge the Micro and Nano World in Materials Inspection and Analysis

    页: 12
    文件大小: 9024 kB

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    White Paper: Analysis and Quantification of Non-metallic Inclusions in Steel

    Shuttle & Find

    页: 6
    文件大小: 1951 kB

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    White Paper: Fast Structural and Compositional Analysis of Aged Li-Ion Batteries with "Shuttle & Find"

    Correlative Microscopy allows a high productivity in structural analysis of Li-ion batteries due to a fast, reliable and precise workflow between light microscopy and SEM.This enables new possibilities especially for quantitative image data analysis of the same region of interest.

    页: 6
    文件大小: 1177 kB

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    White Paper: Fast Structural and Compositional Analysis of Cross-section Samples from an 18th Century Oil Painting with "Shuttle & Find"

    "We present the cross–section sample analysis of an oil painting on canvas. Correlative Light and Electron Microscopy (CLEM) is used for analyzing the cross–section samples

    页: 6
    文件大小: 1600 kB

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    White Paper: Microstructural Investigation of Austempered Ductile Iron (ADI) with "Shuttle & Find"

    Interface for Correlative Microscopy in Materials Analysis

    页: 5
    文件大小: 2766 kB

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    Application Note: Enhancing Material Inspection and Characterization Information and Data Integrity

    By Combining Light and Scanning Electron Microscopy in a Correlative Workflow

    页: 8
    文件大小: 1456 kB

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    Application Note: Graphene Characterization by Correlation of Scanning Electron, Atomic Force and Interference Contrast Microscopy

    页: 5
    文件大小: 1244 kB

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    White Paper: Topography and Refractive Index Measurement

    of a Sub-μm Transparent Film on an Electronic Chip by Correlation of Scanning Electron and Confocal Microscopy

    页: 6
    文件大小: 1755 kB

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    Microscope and Measurement Systems for Quality Assurance and Quality Control

    Capture the essentials of your component. Quickly. Simply. Comprehensively.

    页: 41
    文件大小: 4477 kB