ZEISS Correlative Research for Structural and Chemical Analysis of Nanoparticles

蔡司关于研究纳米颗粒结构和化学分析的关联显微技术

提供纳米级别材料的定量,高分辨率分析

特点

  • 纳米颗粒和纳米材料的可视化
  • 观察纳米材料的结构信息 
  • 对轻元素和官能团的量化研究

为了使用光学显微镜检测纳米颗粒和纳米材料(如石墨烯),研究人员使用蔡司Axio Imager显微镜优异的偏振光衬度,并将其与蔡司全干涉衬度(TIC)模块相结合,使得可以对纳米材料的厚度进行检测。接下来,使用关联显微镜技术,使蔡司 FE-SEM可对石墨烯薄片重新定位,以便能够观察其结构和化学成分。由于类似碳元素和官能团之类的轻元素通过EDX无法进行表征,研究人员使用蔡司原位拉曼显微镜(RISE)进行研究,从而获得石墨烯片的质量信息。

Structural and chemical analysis of nanoparticles, light microscopy polarized light detecion of flakes on big wafer  -  Copyright:Tim Schubert, Aalen University, Materials Research Institute

利用偏振光检测大晶片上的薄片

Structure, crack observation in EM with Inlens detector  -  Copyright: Tim Schubert, Aalen University, Materials Research Institute

用Inlens探测器在EM中进行结构、裂纹观察

FE-SEM In-situ Raman spectroscopy; identification of layers, functional groups  -  Copyright: Tim Schubert, Aalen University, Materials Research Institute

FE-SEM原位拉曼光谱。识别层数和官能团

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