蔡司关于研究纳米颗粒结构和化学分析的关联显微技术

提供纳米级别材料的定量，高分辨率分析

特点

纳米颗粒和纳米材料的可视化
观察纳米材料的结构信息
对轻元素和官能团的量化研究

为了使用光学显微镜检测纳米颗粒和纳米材料（如石墨烯），研究人员使用蔡司Axio Imager显微镜优异的偏振光衬度，并将其与蔡司全干涉衬度（TIC）模块相结合，使得可以对纳米材料的厚度进行检测。接下来，使用关联显微镜技术，使蔡司 FE-SEM可对石墨烯薄片重新定位，以便能够观察其结构和化学成分。由于类似碳元素和官能团之类的轻元素通过EDX无法进行表征，研究人员使用蔡司原位拉曼显微镜（RISE）进行研究，从而获得石墨烯片的质量信息。

Structural and chemical analysis of nanoparticles, light microscopy polarized light detecion of flakes on big wafer - Copyright:Tim Schubert, Aalen University, Materials Research Institute

利用偏振光检测大晶片上的薄片

Structure, crack observation in EM with Inlens detector - Copyright: Tim Schubert, Aalen University, Materials Research Institute

用Inlens探测器在EM中进行结构、裂纹观察

FE-SEM In-situ Raman spectroscopy; identification of layers, functional groups - Copyright: Tim Schubert, Aalen University, Materials Research Institute

FE-SEM原位拉曼光谱。识别层数和官能团

蔡司关于研究纳米颗粒结构和化学分析的关联显微技术

提供纳米级别材料的定量，高分辨率分析

特点

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