为了使用光学显微镜检测纳米颗粒和纳米材料(如石墨烯),研究人员使用蔡司Axio Imager显微镜优异的偏振光衬度,并将其与蔡司全干涉衬度(TIC)模块相结合,使得可以对纳米材料的厚度进行检测。接下来,使用关联显微镜技术,使蔡司 FE-SEM可对石墨烯薄片重新定位,以便能够观察其结构和化学成分。由于类似碳元素和官能团之类的轻元素通过EDX无法进行表征,研究人员使用蔡司原位拉曼显微镜(RISE)进行研究,从而获得石墨烯片的质量信息。
利用偏振光检测大晶片上的薄片
用Inlens探测器在EM中进行结构、裂纹观察
FE-SEM原位拉曼光谱。识别层数和官能团