蔡司关联显微镜技术
关联显微镜技术
超越显微镜的界限,实现更佳的观测结果

关联显微镜技术

解决方案的优点

为了获得样品的实质,需要经常使用多种方法进行分析。从微米级到纳米级的观察需要将光学与电子显微镜(CLEM)或X射线显微镜与FIB-SEM聚焦离子束扫描电子显微镜(CXF)进行相关联。蔡司的关联显微镜技术为您提供了集成化的解决方案和无缝衔接的工作流程。选择蔡司作为光学显微镜、电子显微镜、离子束显微镜和X射线显微镜的供应商,并从多年的关联分析经验中受益。选择以样品为中心的图像和数据关联技术,使您的研究工作超越单一显微镜能够达到的技术界限。

  • 获得对样品的独特见解
  • 无缝地从微米级别转移到纳米级别
  • 采用简化的工作流程在更短的时间内获取更多数据
  • 受益于强大的图像和数据关联处理性能
  • 从2D到4D获取,处理和分析数据
  • 使用关联显微镜技术中的盖玻片和夹具进行准确和高效的工作

应用领域

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