关联扫描电镜-拉曼成像技术及其前沿应用网络研讨会

2019-05-29 星期三 | 14:00 -15:30

蔡司显微镜联合WITec公司发布了全新一代关联扫描电镜-拉曼成像系统RISE(Raman Imaging Scanning Electron Microscope)。通过将共聚焦拉曼(Confocal Ramam)成像系统集成在蔡司扫描电镜(SEM)上,可在扫描电镜腔室中针对样品的同一区域,进行扫描电镜成像与共聚焦拉曼光谱/成像的关联。再结合EDS能谱分析功能,实现关联SEM-EDS-Raman分析,从而以更高的效率揭示材料的微观形貌、成分组成、晶体结构、光学响应等更广泛、更深入的信息。

我们希望此研讨会有助于研究人员扩展显微分析技术的应用领域,通过新的研究方法与技术解决科研中所面临的关键问题。

  • 题   目:关联扫描电镜-拉曼成像技术及其前沿应用分享
  • 时   间:
  • 14:00 -15:00 – 报告
  • 15:00 -15:30 – Q&A
  • 演讲者:
  • 任祺君博士,蔡司中国显微镜应用专家    
  • 胡海龙博士,WITec中国区应用经理   
  • 摘   要: 

由于原理和所针对的研究尺度不同, 通常电子显微镜(SEM)与基于光学显微镜(LM)的分析手段(例如显微拉曼和荧光等)是由不同的实验设备完成。然而随着基于多尺度,多维度的材料分析要求的提升,上述传统的研究方法面临着诸多挑战。

首先,由于分辨率、研究尺度的不同,很难在SEM与LM之间对样品同区域进行关联分析。传统的做法往往是在样品上进行人为标记,不但费时费力,同时关联精度较差。

其次,由于SEM处于真空腔体中而LM以及拉曼荧光的表征都在大气环境中,样品在其中频繁转移中极大地影响实验效率;另外,分离的设备与实验手段极大地限制了样品原位表征与原位操作的需求。

针对上述研究痛点,我们在蔡司场发射扫描电子显微镜平台上开发集成了共聚焦拉曼/荧光成像系统。通过将SEM与共聚焦拉曼的表征集成在同一系统中,实现了对样品同一区域的关联原位成像与分析,也使得样品在同一环境中,既可以获得SEM成像、元素分析,同时可以叠加LM成像、拉曼/荧光分析,从而以更高的效率获得材料更丰富的形貌、成分、结构、物性等信息。其可广泛应用于低维半导体材料、2D材料、纳米结构、人工超材料、新型太阳能电池以及岩石/矿物分析等领域。

演讲人介绍

任祺君博士

蔡司中国显微镜应用专家

2010年毕业于复旦大学,获得物理学博士学位,从事显微学以及固体光谱学方面的应用和研究工作10余年。
主要研究领域为利用显微成像与光谱手段对半导体材料和超材料相关的各种功能材料结构以及物理化学性质的分析与研究。

胡海龙博士

WITec中国区应用经理

2005年至2008年在吉林大学超分子结构与材料国家重点实验室攻读硕士学位,主要研究半导体纳米材料的表面增强拉曼效应。
2008年赴南洋理工大学攻读博士学位,研究方向涉及近场拉曼光谱,针尖增强拉曼光谱及金属表面等离子体光学等多领域。研究工作期间先后在Nano Letter, ACS Nano与Nanoscale等杂志发表。同时与高校及科研机构展开广泛合作,共同发表文章超过15篇。

注册报名参加网络研讨会

填完表格后,将收到一封确认的电子邮件,其中有网络研讨会活动的链接和个人访问权限代码。您可使用链接和权限代码在既定日期和时间参加网络研讨会。

 

参会温馨提醒:

  • 请选择网络信号良好的环境
  • 电脑端环境许可建议连接网线
  • 推荐使用Chrome、IE浏览器