关联扫描电镜-拉曼成像技术及其前沿应用网络研讨会

• 题   目：关联扫描电镜-拉曼成像技术及其前沿应用分享

• 时   间：

• 14:00 -15:00 – 报告
• 15:00 -15:30 – Q&A

• 演讲者：

• 任祺君博士，蔡司中国显微镜应用专家    
• 胡海龙博士，WITec中国区应用经理   

• 摘   要： 

由于原理和所针对的研究尺度不同， 通常电子显微镜(SEM)与基于光学显微镜(LM)的分析手段(例如显微拉曼和荧光等)是由不同的实验设备完成。然而随着基于多尺度，多维度的材料分析要求的提升，上述传统的研究方法面临着诸多挑战。

首先，由于分辨率、研究尺度的不同，很难在SEM与LM之间对样品同区域进行关联分析。传统的做法往往是在样品上进行人为标记，不但费时费力，同时关联精度较差。

其次，由于SEM处于真空腔体中而LM以及拉曼荧光的表征都在大气环境中，样品在其中频繁转移中极大地影响实验效率；另外，分离的设备与实验手段极大地限制了样品原位表征与原位操作的需求。

针对上述研究痛点，我们在蔡司场发射扫描电子显微镜平台上开发集成了共聚焦拉曼/荧光成像系统。通过将SEM与共聚焦拉曼的表征集成在同一系统中，实现了对样品同一区域的关联原位成像与分析，也使得样品在同一环境中，既可以获得SEM成像、元素分析，同时可以叠加LM成像、拉曼/荧光分析，从而以更高的效率获得材料更丰富的形貌、成分、结构、物性等信息。其可广泛应用于低维半导体材料、2D材料、纳米结构、人工超材料、新型太阳能电池以及岩石/矿物分析等领域。