蔡司推出拥有增强 GEMINI 技术的新产品

蔡司推出拥有增强 GEMINI 技术的新产品

蔡司GeminiSEM 和 蔡司 Sigma – 两大系列场发射扫描电子显微镜

2015年4月9日,耶拿

 

蔡司推出新一代拥有增强的 GEMINI 技术的场发射扫描电子显微镜(FE-SEMs),在科研、工业实验室和成像领域中大显身手。GEMINI的设计结合了静电和磁场并充分体现了高效的检测、高分辨率和易用性。

 

新一代蔡司GeminiSEM系列产品提供高对比度和低压成像

 

蔡司 GeminiSEM 系列产品拥有革新的光学设计。纳米双镜头设计提供了高对比度和亚纳米级分辨率的图像。NanoVP 具备在压力高达150 Pa 时使用in-lens 进行检测。即使带电样品也能进行高质量的成像。同时 NanoVP 提高了EDS 的横向分辨率,为样品的化学组分提供了更高的空间分辨率,因而获得样品的更多信息。 “在电压降至100 V 时无须偏压样品依然能够获得高质量的成像”,Grenoble 技术研究所的 Dr. Laurent Maniguet 说。他和他的研究小组目前为这个系统的 beta 测试成员之一。“这是一项巨大的进步” Maniguet 补充道。

 

用于高质量成像和高级分析应用的显微镜 - 蔡司Sigma系列产品

 

蔡司 Sigma 系列产品结合了FE-SEM 技术和用户丰富的经验。四步工作流程的设计保证了快速成像并且提高了产出率。多种检测器可选,为用户的具体应用定制专属的Sigma 产品:颗粒、表面、纳米结构、薄膜、涂层等成像。因其在EDS 分析中具有极好的类几何性能,蔡司 Sigma 系列产品是对样品进行快速分析表征的优选仪器。