ZEISS Microscopy

免费系列网络研讨会——了解材料科学研究中的显微镜解决方案

了解三维,多尺度以及原位显微镜解决方案,他们将帮助我们创造未来。

蔡司与合作伙伴以及前沿研究领域的科学家们共同合作,发布了一系列网络研讨会。
内容将涵盖:

  • 光学,X射线,电子以及离子显微镜技术
  • 材料科学研究领域的趋势以及最新的应用
  • 显微镜成像与分析的最新技术与发展
  • 机器学习技术
  • 原位Raman解决方案

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机器学习和显微技术——可覆盖多种显微技术方法的图像处理

对于当今使用显微镜的科学家来说,面临的最大挑战之一来自于所获得图像的分割。获取图像相对容易,但是获得图像中所包含的信息才是最终的目的。在图像分析和图像分割领域,机器学习技术展现出了巨大的潜力。蔡司ZEN Intellesis就是这样一款机器学习工具,它能够对由不同显微镜获得的图像进行处理与分析,包含电子,离子,X射线以及光学显微镜。来自Aalen大学IMFAA材料研究所的Tim Schubert以及蔡司显微镜部门的Tobias Volkenandt将在此次网络研讨会中联合展示他们在该领域的最新应用结果。

日期: 2018年5月3日,星期四,23:00-00:00 
报告人: Tobias Volkenandt (ZEISS Microscopy), Tim Schubert (University Aalen)

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蔡司拉曼联用扫描电镜(RISE)

RISE是新型的对样品的微区形貌与化学结构分析联用的显微镜平台,可以将样品的形态与其分子结构、成分信息关联在一起(真空环境下)。它可为您提供样品无破坏的化学特性,且无需复杂的标记即可进行原位拉曼分析,并将拉曼的结果图片与形貌图像和结构数据进行叠加,获得综合的分析结果。此网络课堂将带您了解RISE的拉曼成像和关联显微镜的工作原理,并介绍在此平台上最新的相关应用成果。

日期: 2018年5月15日,星期二

报告人: Ute Schmidt (WITec), Fang Zhou (ZEISS Microscopy)

快速精准的材料3D分析工作站

聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB)可为材料研究人员提供材料纳米尺度上的形貌和背散射电子衍射(EBSD)信息。使用聚焦离子束对样品(如金属合金样品)在特定区域上进行自动化逐行切割和成像,然后将每层的图片结果重新组合,便得到了该部位的三维结构信息。本网络研讨会将为您介绍蔡司FIB在硬件和软件上的最新升级,由此将为您带来工作效率上的大幅提高。

日期: 2018年6月7日,星期四
报告人: Jenny Goulden (NanoAnalysis), Pat Trimby (NanoAnalysis), Tobias Volkenandt (ZEISS Microscopy)

结合光学显微镜高效表征金属的微观结构

在此网络研讨会中,我们将介绍蔡司光学显微镜的智能工作流程,并特别邀请了德国阿伦大学材料研究院的Tim教授分享他在近期的相关应用成果。致力于让您在使用光学显微镜研究金属样品时,可获得极好结果以及重复性,并且在日常的研究中充分利用自动图像采集及评估的优势

时间: 2018年9月25日,星期二
报告人: Tim Schubert (University Aalen), Torben Wulff (ZEISS Microscopy)

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