全球首发 | 蔡司 VersaXRM 5 Insight X 射线显微镜，全速引航三维成像新未来

蔡司VersaXRM 5 Insight 采用全新设计的架构，兼具大视野成像、大样品高分辨率成像与快速扫描成像能力，成像效率显著提高，广泛适用于材料研究，地球科学，电子半导体和生命科学等应用场景。

材料科学：适用于金属与合金、陶瓷、高分子、复合材料、新能源材料、生物材料、纳米材料、增材制造材料以及原位试验等方向，可用于孔隙、裂纹、夹杂物、纤维结构、颗粒分布、界面特征和内部缺陷分析。

电子半导体：适用于先进封装、失效分析、TSV 硅通孔、芯片互连、焊点/凸点、PCB/PCBA、功率器件等方向，可为电子器件内部结构、缺陷定位、连接状态和工艺质量分析提供三维检测手段，包含但不限于缺陷捕捉，尺寸测量，数模比对，逆向分析等。

生命科学：适用于动物、植物、医学科研、遗传发育、病理等研究方向，可用于生物组织、生物材料、植物结构、动物样品及相关科研样品的三维显微观察。

地球科学：用于地质与矿产、油气储层、环境、古生物、行星科学等研究方向，可用于岩石矿物结构、孔隙网络、化石内部结构、行星样品及环境样品的三维无损表征。

新一代的硬件技术、成像架构组合、快速扫描模式以及更智能的软件控制平台和基于AI的重构技术不仅拓宽了成像视野，成像效率也显著提升，是蔡司再一次为广大用户呈现的诚意之作。
以 Insight 之名，VersaXRM 5 Insight 将凭借更全面、更灵活、更智能和更快速的成像能力，让更多用户受益于蔡司 X 射线显微镜的优异性能，继续引航 X 射线显微成像技术的未来。

*全球首发指蔡司该产品型号的首次发布