G.I.T.2012 年度创新奖
AURIGA Laser 博得了 G.I.T. 实验室杂志读者、客户及 2012 年慕尼黑分析生化展（Analytica 2012）和 2012 年法兰克福国际化工装备展会（Achema 2012）参展人士的一致好评
G.I.T.实验室杂志正式宣布了 G.I.T.2012 年度创新奖得主。蔡司 CrossBeam (FIB SEM) AURIGA Laser 荣登实验室设备 & 技术类榜首。最终投票前，科学家评委会对所有参赛产品进行审查并做出决议。AURIGA Laser 博得了 G.I.T. 实验室杂志读者、客户及 2012 年慕尼黑分析生化展（Analytica 2012）和 2012 年法兰克福国际化工装备展会（Achema 2012）参展人士的一致好评。
卡尔·蔡司显微镜事业部于今年三月推出聚焦离子束扫描电子显微镜。该系统将 CrossBeam 工作站的优势与用于快速材料烧蚀的脉冲式微焦激光性能相结合。主要适用于对目标结构埋于材料层之下的样品进行显微检测。特种激光用于材料去除，且不对样品造成破坏。其烧蚀率可堪比机械去除。
主要应用包括半导体制造、光伏、聚合体电子、油气勘探、岩土力学咨询、医药品、生物科学及材料研究。