
随着ThinProcess®的推出,您可以享用全面的蔡司解决方案,用于监测大面积镀膜生产工艺,为您提供相关产品质量信息 – 达到实验室仪器测量精度。
通过使用我们的新版软件,ThinProcess®系列产品可以与新版蔡司探头集成使用。使得在线生产满足“实验室准确性”要求。
ThinProcess®为几乎所有大面积镀膜工艺的在线过程监控提供解决方案:
卧式或立式玻璃镀膜 |
卷对卷涂层制备 |
在真空或大气中均可测量 |
ThinProcess® 系列产品:
- 可在线测量膜面反射光谱,玻面反射光谱,透过光谱,面电阻(非接触测量)
- 可计算颜色参数,膜厚及其它光谱分析特征
- 模块化可扩展
ThinProcess® 系列特性:
- 镀膜过程中可获得高测量准确度
- 高测量频率
- 操作软件易于使用,且支持用户弹性设计,可满足几乎所有应用。
- 通过使用OPC DA,PROFIBUS,PROFINET,ETHERNET I/P和其他数字I/O和SQL数据库,集成后即可自动完成配置。
- 通用数据格式和自动化模块可方便集成到生产线中应用。
- 蔡司负责启动和培训