ThinProcess®是基于原OPTOPLEX®的新一代升级系列产品。
随着ThinProcess®的推出，您可以享用全面的蔡司解决方案，用于监测大面积镀膜生产工艺，为您提供相关产品质量信息 – 达到实验室仪器测量精度。
通过使用我们的新版软件，ThinProcess®系列产品可以与新版蔡司探头集成使用。使得在线生产满足“实验室准确性”要求。
ThinProcess®为几乎所有大面积镀膜工艺的在线过程监控提供解决方案：
| 卧式或立式玻璃镀膜 |
| 卷对卷涂层制备 |
| 在真空或大气中均可测量 |
ThinProcess® 系列产品：
- 可在线测量膜面反射光谱，玻面反射光谱，透过光谱，面电阻（非接触测量）
- 可计算颜色参数，膜厚及其它光谱分析特征
- 模块化可扩展
ThinProcess® 系列特性：
- 镀膜过程中可获得高测量准确度
- 高测量频率
- 操作软件易于使用，且支持用户弹性设计，可满足几乎所有应用。
- 通过使用OPC DA，PROFIBUS，PROFINET，ETHERNET I/P和其他数字I/O和SQL数据库，集成后即可自动完成配置。
- 通用数据格式和自动化模块可方便集成到生产线中应用。
- 蔡司负责启动和培训
