ThinProcess® Solutions for In-line Measurements
ThinProcess®
reliabilityMADE BY ZEISS

蔡司在线检测光谱仪

准备迎接每一个挑战

reliabilityMADE BY ZEISS

ThinProcess® 在线监测系统

(原 OPTOPLEX® 系统)

  • 生产状态下可获得高测量准确度
  • 高测量频率

 

  • 介绍

    ThinProcess®是基于原OPTOPLEX®的新一代升级系列产品。

    随着ThinProcess®的推出，您可以享用全面的蔡司解决方案，用于监测大面积镀膜生产工艺，为您提供相关产品质量信息 – 达到实验室仪器测量精度。

    通过使用我们的新版软件，ThinProcess®系列产品可以与新版蔡司探头集成使用。使得在线生产满足“实验室准确性”要求。

     

    ThinProcess®为几乎所有大面积镀膜工艺的在线过程监控提供解决方案：

    卧式或立式玻璃镀膜
    卷对卷涂层制备
    在真空或大气中均可测量

    ThinProcess® 系列产品：

    • 可在线测量膜面反射光谱，玻面反射光谱，透过光谱，面电阻（非接触测量）
    • 可计算颜色参数，膜厚及其它光谱分析特征
    • 模块化可扩展

    ThinProcess® 系列特性：

    • 镀膜过程中可获得高测量准确度
    • 高测量频率
    • 操作软件易于使用，且支持用户弹性设计，可满足几乎所有应用。
    • 通过使用OPC DA，PROFIBUS，PROFINET，ETHERNET I/P和其他数字I/O和SQL数据库，集成后即可自动完成配置。
    • 通用数据格式和自动化模块可方便集成到生产线中应用。
    • 蔡司负责启动和培训
  • ThinProcess® P

    ThinProcess®P 是单通道或多通道光谱测量系统，可在线测量单层或多层镀膜工艺的光学性能。

    可自动识别离散的镀膜基片，并将基片间隙用于自动测量和参比触发。

    测量可以在真空或大气中进行。

    应用：

    建筑玻璃
    汽车玻璃
    显示玻璃
    太阳能玻璃
    薄膜太阳能电池

    仪器特性：

    • 透射和反射光谱波长范围：（380 nm - 1,050 nm）
    • 可完成以下计算和分析：

    - 颜色
    - 膜层厚度
    - 膜系分析
    - 光谱评估
    - 吸光度/吸收率
    - 太阳光波段特性
       （ISO 9050：2003，DIN EN 410）
    - 批次统计（Cpk＆Cp）
    - 脚本语言升级可用

     

    可选项：

    • 可扩展波长范围（可达 1,650nm）
    • 面电阻测量
  • ThinProcess® Q

    ThinProcess®Q 是一种扫描测量光谱仪系统，可以测量成品的光学性能。

    该系统为您提供了多种自动扫描模式，用于测量最终产品指定位置上的光学性能。

    应用：

    建筑玻璃
    汽车玻璃
    显示玻璃
    太阳能玻璃
    薄膜太阳能电池

    仪器特性：

    • 透射和反射光谱波长范围：365nm - 1,050nm
    • 可完成以下计算和分析：

    - 颜色
    - 膜层厚度
    - 膜系分析
    - 光谱评估
    - 吸光度/吸收率
    - 太阳光波段特性
       （ISO 9050：2003，DIN EN 410）
    - 批次统计（Cpk＆Cp）
    - 脚本语言升级可用

    可选项：

    • 可扩展波长范围 (365nm - 1,650nm 或 365nm- 2,150nm)
    • 面电阻测量
    • 55°反射角颜色测量
  • ThinProcess® R

    ThinProcess®R 是单通道或多通道光谱测量系统，可在线测量单层或多层镀膜工艺的光学性能。

    系统控制使用数字I/O或Feld bus信号激活测量和参比触发。

    测量可以在真空或大气中进行

    应用：

    建筑玻璃
    汽车玻璃
    显示玻璃
    太阳能玻璃
    薄膜太阳能电池

    仪器特性：

    • 透射和反射光谱波长范围：380nm - 1,050nm
    • 可完成以下计算和分析：

    - 颜色
    - 膜层厚度
    - 膜系分析
    - 光谱评估
    - 吸光度/吸收率
    - 太阳光波段特性
       （ISO 9050：2003，DIN EN 410）
    - 批次统计（Cpk＆Cp）
    - 脚本语言升级可用

     

    可选项：

    • 可扩展波长范围 （365 nm - 1,650 nm 或 365 nm - 2,150 nm)
    • 面电阻测量
  • ThinProcess® WEB

    ThinProcess®WEB 是单通道或多通道光谱测量系统，用于测量卷对卷涂布设备中单层或多层膜涂布后的光学性能。

    测量方式可以跟随镀膜机自动化生产节奏。

    测量可以在真空或大气中进行。

    应用：

    包装薄膜
    光电显示膜
    薄玻璃涂层
    金属带涂层
    OLED薄膜，柔性电子薄膜
    光伏膜
    保护膜，全息膜

    Features:

    • 透射和反射光谱波长范围 （380 nm - 1,050 nm）
    • 可完成以下计算和分析：

    - 颜色
    - 膜层厚度
    - 膜系分析
    - 光谱评估
    - 吸光度/吸收率
    - 太阳光波段特性
       （ISO 9050：2003，DIN EN 410）
    - 批次统计（Cpk＆Cp）
    - 脚本语言升级可用

    可选项：

    • 可扩展波长范围 （340 nm - 1,650 nm 或 365 nm - 2,150 nm）
    • 面电阻测量
  • 软件

    ThinProcess® 软件是 ThinProcess® 系列产品的强有力支撑。

    这个基于计算模型的监测软件，可以用来显示光谱特性等参数，例如计算各种膜层的颜色值及膜厚。

    该软件使您可以自由配置客户关心的参数计算，及结果的显示方式。测量结果可以显示为光谱，数值，趋势或分布。客户可以十分灵活的配置测量过程及显示界面。

    您可以使用单独的工具修改合适的配置。这样可实现软件与应用场景一致，即只显示客户关心的相关的信息。

    数据存储在CSV文件和SQL数据库中。

    可用于计算和分析：

    • 颜色
    • 膜层厚度
    • 膜系分析
    • 光谱评估
    • 吸光度/吸收率
    • 太阳光波段特（ISO 9050:2003，DIN EN 410）
    • 批次统计（Cpk＆Cp）
    • 脚本语言升级可用

    ThinProcess® 软件特性：

    • 多种报警功能，超过阈值自动报警（阈值和警告级别可由客户设定）
    • 可选的历史数据模块
    • SCOUT软件（基于模型的膜系分析与化学计量软件的无缝结合）

OPTOPLEX®是Leybold Systems GmbH和Applied Materials GmbH＆Co. KG集成蔡司仪器后的商标。