ASPECT PLUS:适用于 UV-NIR 波长范围不同应用的光谱仪软件

软件

工艺流程内

ASPECT PLUS

专为工艺流程控制设计的软件

  • 介绍

    采集和处理光谱数据的软件

    ASPECT Plus 是一款运行在微软 Windows 下的灵活、模块化光谱分析软件。大量可选软件包能够为用户提供专业化的分析方法。您可在选项下找到多组份、颜色和镀膜厚度分析功能菜单项。

  • 优势
    • 提供多种语言(英语、法语、德语、意大利语、葡萄牙语和西班牙语),其他语言将随后发布
    • 可同时控制多台光谱仪
    • 支持通过标准化化学计量学软件,如 GRAMS、UNSCRAMBLER® 或 UCAL,来创建校准(化学计量学模型)
    • 用于尽可能消除边缘光谱的过滤功能
    • 通过 OPC 通信将其集成至生产线控制中
    • 根据需要使用预定产品或创建用户定制产品
    • 计算、评估和集成至更高级的处理环境中
    • 通过数字输入/输出控制事件
  • 函数库

    用于光谱数据采集的软件产品*:
    设备驱动程序、SDACQ32MP 和 SDPROC32 函数库

    设备驱动程序

    特殊驱动程序支持配有计算机总线接口(PCI、USB)的所有操作电子器件。作为操作系统插件,这些中断控制驱动程序可与硬件进行交互,如设置参数和采集与像素相关的数据。由于硬件参数和传感器工作模式的复杂性,所以用户无法直接访问这些驱动程序。但通过简单易用的 SDACQ32MP 函数库便能直接访问驱动程序。

    SDACQ32MP 函数库

    SDACQ32MP(*.DLL)作为所有 tec5 软件产品的基础函数库,提供大量用于设置硬件参数、采集光谱数据和支持其他硬件功能(如数字输入/输出)的函数。与像素相关的数据会被传输至应用程序执行后续处理。函数库与硬件相关的设备驱动程序进行交互。在使用中要考虑到各电子设备的不同功能特性。该函数库支持的硬件版本与采集的光谱数据无关。仅借助一个软件接口,可管理所有不同的硬件配置。因此,应用软件与硬件类型无关。函数库能同时处理几个相同类型的操作电子器件(数量可达 6 个,这取决于所使用的类型),从而可以实现从不同传感器中同时采集光谱数据。Tec5 操作电子器件的每块独立板卡均包含一个存储器芯片(EEPROM),其中保存了各种识别信息及所用光谱仪的校准系数。函数库可以读取并使用这类信息,如用于软件自动配置。

    用于光谱数据采集和处理的 SDPROC32 功能库

    SDPROC32 函数库可基于 SDACQ32MP 模块实现一个接口,该接口进一步抽象了实际硬件,并提供了大多数光谱学应用所需的基本数据处理功能。硬件配置存储在可读的 INI 文件中,通过集成的硬件配置向导创建。标准处理功能,如插值、透射率和吸收率的计算、通道加入以及数据预处理功能(如基线校正)均已实现。

    AdminTool 测试软件

    AdminTool 是一款用于 tec5 操作电子器件和光谱仪系统的测试程序。它能够采集和显示与像素相关的数据及传感器参数设置(校准系数、像素数量、传感器类型),并将其存储至硬件中。所采集的数据可以 ASCII 文件的形式导出进行后续数据处理。

    SDACQ32MP / SDPROC32 的软件开发工具包

    软件开发工具包提供了文件和文档,以便在基于相应的函数库开发应用时供使用。软件开发工具包支持 C、C++、Visual Basic 和 Delphi(仅 SDACQ32MP 适用)等编程语言,包括用于功能和常量定义的准备文件。通常而言,可以使用能够处理标准 windows DLL 的常用编程环境。此外,MSVC、MSVB、Delphi(仅 SDACQ32MP 适用)和 C#.NET 中还包含了一些程序范例。

    用于 LabVIEW 的仪器驱动程序

    美国国家仪器开发的编程语言 LabVIEW™ 是一套用于开发过程应用软件的图形用户界面。在直接集成 tec5 硬件时,可提供 LabVIEW™ 仪器驱动程序。这类仪器驱动程序包含了提供有大量功能库的各种 Sub-VI(子虚拟仪器)。除这些基本功能外,tec5 还提供了多种 Sub-VI 用于处理光谱数据,例如:

    • 基于校准系数来计算波长
    • 光谱数据插值
    • 测定吸收和透射值
    • 以 ASCII 和 JCAMP 文件的形式导出光谱数据

    为 USB 操作电子器件提供特殊应用范例,其中详细说明了如何显示硬件参数设置及进行光谱数据的采集和处理。


    * tec5 AG 开发的软件产品。