MCS 600 光谱仪系统配件
蔡司光谱仪配件

MCS 600 系列

反射测量

MCS 600 系统

MCS 600 配件

MCS 600 配件

反射测量

凭借模块化设计和多种可选测量头及配件,MCS 600 系统可为测量任务提供更大灵活性。无论是执行透射率或反射率测量,还是在何种波长范围内进行工作,都能够迅速更换测量头和调整系统以满足新测量任务的要求。此外,实验室分析用特种配件还可让您能够挑选到非常合适的设备,以满足实验室内的质量保证需求。根据您的需求简单选择合适的配件:

  • ARMOR

    ARMOR

    ARMOR 是一款自动参考测量头,可用于在输送带或生产线上进行无接触线内测量。即使测量头与样品材料之间距离较远,其自动参考系统仍能实现可靠测量。

     

     

    因此,它在无法确保样品材料堆积高度的应用中仍能执行测量。抛光不锈钢机箱内的坚固耐用型测量头适合与 MCS 600 一起使用。ARMOR 测量头包含有一个 50 W 卤素反射灯,其由 MCS 600 光谱仪机箱中的稳定电源装置供电。准平行光束的光学系统能以 0° 角实现样品照明(垂直于样品)。以 10° 角观察样品。

    光谱范围 380 - 1700 nm
    照明几何结构 10°
    照明角度

    下载产品手册 (英文)

  • OMK 500-H

    OMK 500

    OMK 500-H 是一种集成有卤素灯的反射测量头,可用于漫反射测量。它能与 MCS 500 光谱仪定制版组合使用。OMK 500-H 的应用包括纹理样品的在线颜色测量,如纺织品、纸张和塑料等。

    光学系统能以近平行光束从 0° 角(垂直样品)为样品提供照明。15 根独立光纤以环形均匀排列,以方便从 45° 角观察样品。光纤束通过一个光纤连接器与光谱仪相连。通过备用光纤将光线直接导向至光谱仪(而非经样品)来形成双光束排列。

    光谱范围 380 nm 至 900 nm OMK 500 -H
    400 nm 至 2400 nm OMK 500 H - NIR
    观察几何结构 45° 时 15 x 24° 环形
    照明角度
    光源 集成的卤素灯

    下载产品手册 (英文)

  • OFR d/8°

    OFR d/8°

    OFR D/8° 测量头专为光滑和散射样品的非接触式反射测量而设计。OFR D/8° 是二极管阵列系统 MCS 500 和 CORONA 的配件,且专为这类系统的使用进行了优化。

    它可用于镜面或非镜面反射的测量。通过乌布利希积分球漫射照明样品。球体包含一个卤素灯,或通过使用光纤连接的外部氙气闪光灯照亮。球内壁反射的光线可通过光纤传输至参考光谱仪中。将待测光成像至光纤连接器上。然后,通过光纤送至样品光谱仪中。使用 BK7 玻璃板保护乌布利希积分球免受脏污。

    光谱范围 380 nm 至 950 nm
    视角
    照明角度 漫射
    球直径 55 mm
    有效测量区域 直径10 mm
    光源 卤素灯(OFR D/8°-H)或外部氙气闪光灯
  • 10°/10° 测量头

    10°/10° 测量头

    10°/10° 反射测量头专为透明镀膜样品的反射和颜色测量而设计。特别适用于测量监视器、玻璃和镀膜表面的低反射涂层。

    其设计允许在抑制背面反射的同时来测量涂层反射。测量头与样品材料间距约为 180 mm。10°/10° 反射测量头直接固定在衬底上,通过光纤连至模块化光谱仪单元。使用卤素灯作为光源。以 10° 角照明样品。卤素灯的光线被投射至反射测量头上,样品的反射光则被导向测量光纤。

    光谱范围 380 - 2200 nm
    照明几何结构 10°
    照明角度 10°
    测量区域 直径1mm
  • 漫反射探头

    漫反射探头

    反射探头专用于在二极管阵列光谱仪中测量 Vis 和 NIR 波长范围内的漫反射。
    漫反射光谱测量是定性和定量分析粉末状或颗粒状固体和成份的利器。

  • ATR 探头

    ATR 探头

    ATR 意指“衰减全反射”。光从具有高折射率的材料(ATR 水晶)进入较低折射率的材料(溶液)通常会发生全反射。ATR 探头适用于直接测量具有强吸性的溶液,而标准透射探头则无法实现 。

  • 光学元件

    用于透射和反射测量的光学元件

    可提供具有不同图像和测量束斑大小的光学元件。使用 SMA 或蔡司连接器来连接光纤。

    光学元件一览 (英文)