用于 NIR 波长应用的平面光栅光谱仪。

PGS 系列

NIR 专业系统

PGS 系列

平面光栅光谱仪

  • 介绍

    平面光栅光谱仪专为 NIR 波长范围的特殊测量任务应用而设计。这类结构小巧且坚固耐用的模块拥有稳定的波长、高分辨率和高精准度,即使在工艺流程条件要求严苛的情况下也可测量厚涂层。探测器采用 InGaAs(砷化铟镓)材料制成。非球面准直器和聚焦透镜的光学组合,能够对光学成像进行出色的平场校正。

    PGS 系列的组件

    • 闪耀平场光栅
    • 非球面透镜
    • 单光纤,使用狭缝作为光学输入
    • 制冷 InGaAs 光电二极管阵列作为光电输出
    • 接口、处理软件和技术支持
  • 特点

    优势

    • 结构紧凑,不含移动部件
    • 长期固定
    • 即使在恶劣条件下也坚固耐用
    • 快速同步读出
    • 长期校准
    • 高动态范围
    • 高光敏感度
    • 高可重复性
    • 低温度漂移
  • 设计
    • 核心模块由铝合金制成
    • 输入光纤和探测器长期固定在核心模块上,具有出色的稳定性
    • 机械刻划或全息平面光栅
    • 光栅表面经设计可用于捕获数值孔径高达 0.37 光纤的光线
  • 视频
  • 规格
      PGS 1.7 - 256   PGS 1.7 - 512 PGS 2.0 - 256  PGS 2.2 - 256 
    光学入口 Infrasil 石英玻璃  直径: 0.6 mm Infrasil 石英玻璃  直径: 0.6 mm Infrasil 石英玻璃  直径: 0.6 mm Infrasil 石英玻璃  直径: 0.6 mm
    入口圆 长度: 300 mm NA = 0.22(须按完整规范进行填充)安装在 SMA 耦合器中 长度: 300 mm NA = 0.22(须按完整规范进行填充)安装在 SMA 耦合器中 长度: 300 mm NA = 0.22(须按完整规范进行填充)安装在 SMA 耦合器中 长度: 300 mm NA = 0.22(须按完整规范进行填充)安装在 SMA 耦合器中
    输出线性 狭缝宽度: 80 µm  狭缝宽度: 80 µm  狭缝宽度: 80 µm  狭缝宽度: 80 µm 
    边缘滤色片 950 nm 950 nm 1,350 nm 950 nm
    光栅 平面光栅,
     
    484 l / mm,在约 1.2 µm 处闪耀
    平面光栅,
     
    484 l / mm,在约 1.2 µm 处闪耀
    平面光栅,
     
    484 l / mm,在约 1.4 µm 处闪耀
    平面光栅,
     
    300 l / mm,在约 1.4 µm 处闪耀
    二极管阵列 Hamamatsu S9203-256,256 像素 Sensor Unlimited Inc. SU512LD-1.7 T1,512 像素   Hamamatsu G9206,256 像素 Hamamatsu G9206,256 像素
    光谱范围 960-1,690 nm 960-1,690 nm 1,340-2,000 nm 1,000-2,150 nm
    波长精度 1 nm 1 nm 1 nm 1 nm
    温度,感应漂移 < 0.012 nm/K < 0.012 nm/K < 0.012 nm/K < 0.012 nm/K
    平均光谱像素间距 Δ λ 像素 ≈ 3 nm Δ λ 像素 ≈ 1.5 nm Δ λ 像素 ≈ 3 nm Δ λ 像素 ≈ 5 nm
    分辨率 Δ λ FWHM ≈ 8 nm  Δ λ FWHM ≈ 6 nm  Δ λ FWHM ≈ 8 nm  Δ λ FWHM ≈ 16 nm 
    杂散光 在 1405 nm 处(使用卤素灯照射)以 10 mm 水透射测得 ≤ 0.1 %  在 1405 nm 处(使用卤素灯照射)以 10 mm 水透射测得 ≤ 0.1 %  在 1405 nm 处(使用卤素灯照射)以 10 mm 水透射测得 ≤ 0.1 %  在 1405 nm 处(使用卤素灯照射)以 10 mm 水透射测得 ≤ 0.1 % 
    工作温度 0-40 °C(标准,取决于制冷电子器件)  0-40 °C(标准,取决于制冷电子器件)  0-40 °C(标准,取决于制冷电子器件)  0-40 °C(标准,取决于制冷电子器件) 
  • 下载

    产品资料 (0.3 MB / 供在线使用)