MCS UV-NIR

多通道光谱仪

MCS UV-NIR

多通道光谱仪

  • 介绍

    MCS 光谱仪系列坚固耐用，且具备高可重复性和出色的分辨率。该类仪器应用广泛，可在实验室和工艺流程分析中执行高效测量。它们能够被直接集成至线旁、在线和线内检验流程中。在荧光和涂层厚度测量及等离子体光谱学中能够获得快速可靠的测量结果。CCD 或 PDA 传感器在 UV 至 NIR 波长范围内拥有非常高的灵敏度，在低照度检测时特别灵敏。

     

    MCS 系列的组件

    • 光纤交叉切面转换器和/或狭缝作为光学输入
    • 成像、像差校正光栅
    • 作为光电输出的光电二极管阵列或薄型背照式 CCD 均连接至核心模块
    • 接口、处理软件和技术支持

     

  • 特点

    优势

    • 几乎不受外界因素影响
    • 可靠测量
    • 温度漂移很低
    • 低杂散光
    • 紧凑且坚固耐用的设计

     

  • 设计
    • Hamamatsu S3904-512Q 或 1024Q 型硅二极管阵列探测器（PDA）
    • 二极管阵列直接镀有介质截止滤光膜
    • Hamamatsu S7301-0906Q 或 1006Q 薄型背照式 CCD（CCD），对 UV 光具有出色的灵敏度
    • 集成 Peltier 元件来减少暗电流
    • 陶瓷机箱
    • 像差校正光栅、交叉切面转换器或机械式狭缝和探测器均直接与机箱相连
    • 全息闪耀平场光栅
    • 全息像差校正光栅可获得约 25 mm 长的平面光谱
    • 使用数值孔径高达 0.22 的光纤作为光学输入
    • 光纤束交叉切面转换器能将圆形光束转换成槽形光束
    • 风冷散热器
  • 规格
      MCS PDA MCS CCD
    光学入口 交叉切面转换器 交叉切面转换器
    入口圆

     

    直径 = 0.5 mm，数值孔径 = 0.22 SMA 接头

     

    		 直径 = 0.5 mm，数值孔径 = 0.22 SMA 接头
    输出线性 70 µm x 2400 µm 70 µm x 1400 µm
    光栅 平场，在约
    250 nm 处闪耀性能优异（UV 版本）
    450 nm （VIS版本）
    750 nm（NIR版本）
               		 平场，在约
    250 nm 处闪耀性能优异（UV版本）
           
           
    光谱范围 190-1015 nm（可提供其他选择） 190-980 nm（可提供其他选择）
    波长精度 0.3 nm 0.5 nm
    温度 - 感应漂移 < 0.005 nm/K < 0.01 nm/K
    平均光谱像素间距 Δ λ 像素 ≈ 0.8 nm Δ λ 像素 ≈ 0.8 nm
    分辨率 ΔλFWHM ≈3 nm （UV 版本）
    ΔλFWHM ≈3 - 4 nm （UV-NIR 版本）
    		 ΔλFWHM ≈3 nm （UV 版本）
    ΔλFWHM ≈3 - 4 nm （UV-NIR 版本）
    杂散光 使用氘灯在 340 nm 处测得 ≤ 0.1%（NaNO2 溶液透射，50g/l，1cm） 使用氘灯在 340 nm 处测得 ≤ 0.1%（NaNO2 溶液透射，50g/l，1cm）
    尺寸 140 x 105 x 75 mm³
    		 177 x 178 x 75 mm³
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    ZEISS MCS Dimensions

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    ZEISS MCS FLEX Dimensions

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    ZEISS Spectrometer Modules

    产品简编、电子元件和软件解决方案

    页: 27
    文件大小: 2607 kB