FilmDetect®工艺控制系统，是用于在线镀膜检测的快速有效的独立解决方案。可测量膜层厚度，设置反射上限阈值，计算颜色值。容易使用且可单独调节，FilmDetect ®适用于现有膜系产品检测和新膜系产品设计。
FilmDetect® 专为桌面应用而设计，但也可完全集成至生产线中。 该系统基于我们坚固耐用、性能可靠且结构紧凑的二极管阵列光谱仪， 能够帮助您在在线工艺流程监测和日常工作中大大节省时间和开支。
Thin layer analysis with FilmDetect®
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Thin layer analysis with ThinProcess®
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