2021年4月30日 12 分鐘閱讀

借助X射线解决方案，洞悉内部质量

蔡司全面解决方案带您进入X射线技术的世界

见所未见——使用蔡司X射线系列产品的X射线解决方案已成现实，它为质量保证开启了全新的可能性。例如，使用该射线可以检测内部缺陷、测量壁厚或进行尺寸分析。X射线技术还具有其他很多优点。您知道吗？

借助X射线解决方案，洞悉内部质量

X射线技术可在不损坏零部件的情况下提供其内部信息。它不仅可以检测出零部件的隐藏缺陷，也可以测量其内部尺寸。通过一次扫描，您就可获得关于该零部件的缺陷、尺寸偏差和材料性质的充足信息，并可以对质量进行全面评价。如此便不再需要使用其他几种检验和测量方法来进行非常耗时且高成本的检测工作。除此之外，3D计算机断层扫描（CT）技术可以实现在没有CAD模型情况下零部件的逆向工作。

蔡司全面解决方案带您进入X射线技术的世界

您也想从X射线技术优势中获益吗？蔡司X射线系列的使用操作非常简单。我们可以根据您的需求为您提供一套完整的解决方案，无论是小型塑料件的精密测量、铝铸件快速缺陷分析还是3D打印件高分辨率材料分析。客户可以从我们非常齐全的产品系列中受益，其中包括适用于客户需求的便捷的X射线检测系统、高精度计算机断层扫描（CT）系统、稳健耐用的生产型自动化在线系统以及高分辨力X射线显微镜。

软件和附件解决方案以及更全面的服务构成了一套完整的体系。通过该方式，客户可获取一站式定制化的整体解决方案。

借助新型借助新型 CT蔡司METROTOM 1，您可以非常轻松地掌握X射线技术入门决窍。您无需丰富的经验即可评定零部件的缺陷或尺寸偏差，并从该技术的优势中受益。

精度的新典范

除测量专用的蔡司METROTOM产品系列外，蔡司还可使用3D X射线显微镜进行高分辨力分析——该设备近期甚至已经在测量领域得到应用。蔡司Xradia Versa系统测量功能在单点测量形状误差方面的规定测量精度（MPE）为(1.9 + L/100) μm，是目前市场上更精准的CT测量设备。如此便可实现采用5毫米视场来进行高分辨力的测量评定工作。这对于需求极小公差范围的极小型电子部件或元件的质量鉴定非常重要。

为实现这一目标，蔡司研发出了METROTOM-Check Nano。这是一种符合VDI/VDE 2617-13和2630-1.3标准的新型长度测量标准器，具有非常高的精度，只能在全球两个地点进行追溯性计量。它对于那些习惯使用接触式测量设备来实现高精度并期望通过CT技术获得同样效果的用户来说，是一种良好的解决方案。

生产过程中的可靠检验

X射线解决方案不仅可以在测量室使用，也可以在生产中直接使用。BOSELLO产品系列中稳定可靠的X射线解决方案可以实现生产过程中的快速2D检验。若需要系统自动确定零件的尺寸偏差或缺陷的确切尺寸和位置，蔡司VoluMax系列中的3D计算机断层扫描系统将会是您的不错选择。该系统可自动检验和评定零部件的缺陷，并在必要情况下，在加工缺陷部件造成高成本前，将缺陷部件分拣出来。

强大的软件，优质的服务

为了确保可靠的质量，蔡司在其产品系列中推出了高性能软件，例如蔡司CALYPSO和蔡司自动缺陷检测软件。除此之外，您也可以通过使用GOM Volume Inspect从久经考验的测量评定软件解决方案中受益。它可以使您满足一站式检测及测量任务需求。通过这种方式，我们将针对您的应用需求而非单一产品提供一套全面的解决方案。

您还可从蔡司全球服务网络中获益，通过国际统一的服务标准，助力您的X射线解决系统始终可以正常运行。该全球服务网络还包括培训和教育，以帮助客户在执行检验和测量任务时获得稳定的质量。通过这种方式，您可以专注于生产，享受蔡司X射线解决方案带来的安全性。