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光学测量

160 多年来 ZEISS 这个名字一直是光学及精密的同义词。这就难怪在我们的技术中心里光学测量技术占有一个特殊的地位。

 

光学测量技术的优点在于其高点的密度和速度。你可在很短的时间内收到详尽的结果。我们使用不同的系统:多传感器用于 ZEISS O-INSPECT 级别的坐标测量机,白光传感器用于非接触曲面评估和拓扑测量,加上最新的 3D 扫描仪。

 

您是否正在寻找为您的零件进行整个曲面的数字化和分析的解决方案?我们高度精确的 3D 扫描仪正是您所需要的解决方案。这种扫描仪可在短短的几秒钟之内记录极大量的高精度数据。数控引导的旋转台可以帮助完成有效的测量和数字化。

 

由于极高的点密度,您可以在很短的时间全面地评估零件。可以简便可靠地生成名义值和实际值之间的比较、重新定值并校正工具数据。

应用领域

  • 控制/检验品质
  • 根据 CAD 数据组合比较测量所得的名义和实际值
  • 工具制造和模具制造
  • 形状测量、曲面测量技术
  • 重组工具
  • 扫描数据用于生成加工路径
  • 根据工具的批准产生实际的记录文件
  • 设计
  • 为 CAD 下游处理、文档记录扫描设计模型
  • 快速制造/打样
  • 逆向工程
  • 建档记录过往物件、加工历史等资料
 

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