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ZEISS PiWeb Monitor 模块

可视化动态报告

Monitor 的设计,功能强大但使用简便。产品专用和通用的报告使您能在任何时候、从任何地方访问您的生产过程数据。动态报告可让您在生产过程中立即分析相关数据。互动的功能,例如数据分组、腔体和细节分析,帮助您将测量到的数据即时转化成有价值的判断。

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监视器

  • 实时监控质量数据和过程控制
  • 轻松地通过所有的测量数据进行导航(利用详细的信息页面进行数据分析、分离和聚类分组的分析)
  • 方便地访问所有重要的统计数值并进行计算
  • 交互的可视化 CAD 显示方式
  • 通用的研究方式如 Gage R&R 和装配分析。

动态及交互的

Monitor 可从您的 ZEISS PiWeb 服务器模块为您立即显示最新的测量。建立在报告中的所有图表和评估会立即显示出新的数据。如须进行深度测量分析,Monitor 让您能够访问所有最重要的统计数值,而且只须简单的点击即可进行分析。您可轻松地利用链接报告或报表页面去检索大量的数据池。

详细信息页面

详细信息页面让您能够检查公差的偏差和生产过程的变化。Monitor 采用了最常见的详细信息页面,同时也可轻易生成和添加自定义的页面。

统计

进行详细分析时,您可轻松地访问最常用的统计参数,例如最小值、最大值、平均值和标准差,以及 CP/CPK 值。您可直接在报表页面上显示这些参数,或是通过点击绘图访问参数。

量具的重复性和再现性

取得测量结果的过程受制于生产过程本身的相似变化。

ZEISS PiWeb 帮助您评估使用测量系统分析方法 I 、II 和 III 时的测量过程精度。利用 ZEISS PiWeb 所生成的有意义的绘图以及所有必要的统计数值(平均和范围或方差分析)可轻易地进行这些测量系统的分析探讨。Monitor)的交互式手工测量输入有助于所有必要数据的采集。

CAD

Monitor 可在 CAD 模型上直接显示测量结果。CAD 模型保持交互性,这意味着模型在最终报告中仍可旋转、缩放和移动。

ZEISS PiWeb 也支持例如在 G3D 格式数据所取得的点云数据的光学测量评估。

 

互动式手工测量输入

即使在今天,仍然有许多测量数据是采用人工量具取得的。Monitor 有助于这种直接将测量值输入报告的过程。输入掩码减少不正确的数据输入,因而检查人员可以得到关于关公差和超限警示的即时图形反馈。

 

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