Axioskop 40 Pol
Axioskop 40 POL
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偏显微设备的最佳选择 显著特点
技术数据


适合于偏振光显微设备的各种应用,如地质、矿物学、刑事侦探、材料测试、材料研究等等。

本偏振光显微设备除了可以用所有的普通方法,还采用最新的独特的对比和测量技术,具有独特创新性和灵活性;同时还适合透射光或透射-加-反射光。另外还有用途多、价格廉、具有独特功能的高智能部件,如六角形旋转式管嘴、5-位反射镜转台以及具有最佳定位范围的新型标本托盘等。

适合所有偏振光和材料显微应用的优秀平台:

Axioskop 40 Pol,适合无畸变;Axioskop 40 Pol适合无畸变和锥光法;Axioskop 40 A Pol适合无畸变和锥光法(透射光和反射光)。